Max Planck Institute for Chemical Physics of Solids - Library Catalog

Chemical-mechanical planarization of semiconductor materials (Record no. 3836)

MARC details
000 -Satzkennung
Kontrollfeld mit fester Länge 03580cam a2200769 c 4500
001 - Kontrollnummer
Kontrollfeld 368948161
003 - Kontrollnummer Identifier
Kontrollfeld DE-627
005 - Datum und Zeit der letzten Transaktion
Kontrollfeld 20250624174245.0
007 - Feld mit fester Länge zur physischen Beschreibung - Allgemeine Information
Kontrollfeld mit fester Länge tu
008 - Feld mit fester Länge zur physischen Beschreibung - Allgemeine Angaben
Kontrollfeld mit fester Länge 030903s2004 gw ||||| 00| ||eng c
010 ## - Kontrollnummer der Library of Congress
LC-Kontrollnummer 2003059075
016 7# - Kontrollnummer der nationalbibliografischen Agentur
Datensatzkontrollnummer 3540431810
Quelle UK
020 ## - Internationale Standardbuchnummer
Internationale Standardbuchnummer 3540431810
Bezugsbedingungen : $149,00 : CIP entry (Nov.)
-- 3-540-43181-0
024 3# - Anderer Standardidentifier
Standardnummer oder Code 9783540431817
024 8# - Anderer Standardidentifier
Standardnummer oder Code 2003-59075
Nähere Angaben Identnummer
035 ## - Systemkontrollnummer
System-Kontrollnummer (DE-D210)CP000004047
035 ## - Systemkontrollnummer
System-Kontrollnummer (DE-576)109151828
035 ## - Systemkontrollnummer
System-Kontrollnummer (DE-627)368948161
035 ## - Systemkontrollnummer
System-Kontrollnummer (DE-599)GBV368948161
035 ## - Systemkontrollnummer
System-Kontrollnummer (OCoLC)249464583
035 ## - Systemkontrollnummer
System-Kontrollnummer (OCoLC)52765846
035 ## - Systemkontrollnummer
System-Kontrollnummer (AT-OBV)AC04003018
040 ## - Katalogisierungsquelle
Original-Katalogisierungsstelle DE-627
Katalogisierungssprache ger
Übertragungsstelle DE-627
Beschreibungsfestlegungen rakwb
041 ## - Sprachcode
Sprachcode des Textes/der Tonspur oder des separaten Titels eng
044 ## - Ländercode der veröffentlichenden/herstellenden Stelle
ISO-Ländercode XA-DE
-- XD-US
-- XA-CH
050 #0 - Signatur der Library of Congress
Notation TK7871.85
082 0# - Notation nach der Dewey Decimal Classification
Notation 621.38152
082 0# - Notation nach der Dewey Decimal Classification
Notation 621.3815/2
082 04 - Notation nach der Dewey Decimal Classification
Notation 620
084 ## - Andere Notation
Notation ZM 7660
Zuweisende Stelle BVB
Quelle der Nummer rvk
IDN des Normdatensatzes oder Standardnummer (DE-625)rvk/157138:
084 ## - Andere Notation
Notation ZN 4136
Quelle der Nummer rvk
IDN des Normdatensatzes oder Standardnummer (DE-625)rvk/157357:
084 ## - Andere Notation
Notation VN 7150
Quelle der Nummer rvk
IDN des Normdatensatzes oder Standardnummer (DE-625)rvk/147605:253
084 ## - Andere Notation
Notation 53.56
Quelle der Nummer bkl
084 ## - Andere Notation
Notation 33.72
Quelle der Nummer bkl
245 00 - Titel
Titel Chemical-mechanical planarization of semiconductor materials
Verfasserangabe etc. M. R. Oliver (ed.)
246 30 - Titelvarianten
Hauptsachtitel/Kurztitel chemical-mechanical
263 ## - Geplantes Erscheinungsdatum
Geplantes Erscheinungsdatum : No price : CIP entry (Nov.)
264 #1 - Produktion, Veröffentlichung, Distribution, Herstellung und Urheberrechtsvermerk
Herstellungs-, Veröffentlichungs- Vertriebs-, Erzeugungsort Berlin
-- Heidelberg [u.a.]
Produzent, Herausgeber, Distributor, Hersteller Springer
Datum der Herstellung, der Veröffentlichung, des Vertriebs oder des Urheberschutzvermerks 2004
300 ## - Physische Beschreibung
Umfang X, 425 S
Weitere äußerliche Details ill
336 ## - Inhaltstyp
Inhaltstypterm Text
Inhaltstypcode txt
Quelle rdacontent
337 ## - Medientyp
Bezeichnung des Medientyps ohne Hilfsmittel zu benutzen
Medientypcode n
Quelle rdamedia
338 ## - Datenträgertyp
Datenträgertypbezeichnung Band
Datenträgertypcode nc
Quelle rdacarrier
490 1# - Gesamttitelangabe
Gesamttitelangabe Springer series in materials science
Bandnummer/Folgebezeichnung 69
500 ## - Allgemeine Fußnote
Allgemeine Fußnote Includes bibliographical references and index
583 1# - Fußnote zum Bearbeitungsvermerk
Aktion Archivierung/Langzeitarchivierung gewährleistet
Autorisierende Stelle PEBW
Quelle der Ansetzung oder des Terms pdager
Das Unterfeld gibt die Institution an, auf die sich das Feld bezieht DE-31
583 1# - Fußnote zum Bearbeitungsvermerk
Aktion Archivierung prüfen
Zeit/Datum der Bearbeitung 20240324
Autorisierende Stelle DE-4165
OPAC-Notiz 2
Quelle der Ansetzung oder des Terms pdager
650 #0 - Nebeneintragung unter einem Schlagwort - Sachschlagwort
Sachschlagwort oder geografischer Name als Eintragungselement Semiconductors
Allgemeine Unterteilung Materials
650 #0 - Nebeneintragung unter einem Schlagwort - Sachschlagwort
Sachschlagwort oder geografischer Name als Eintragungselement Chemical mechanical planarization
650 #0 - Nebeneintragung unter einem Schlagwort - Sachschlagwort
Sachschlagwort oder geografischer Name als Eintragungselement Semiconductors
Allgemeine Unterteilung Materials
650 #0 - Nebeneintragung unter einem Schlagwort - Sachschlagwort
Sachschlagwort oder geografischer Name als Eintragungselement Grinding and polishing
689 00 -
-- s
-- (DE-588)4158817-4
-- (DE-627)105490113
-- (DE-576)209845325
-- Halbleiterwerkstoff
-- gnd
689 01 -
-- s
-- (DE-588)4227250-6
-- (DE-627)104965215
-- (DE-576)210320958
-- Chemisches Polieren
-- gnd
689 0# -
-- DE-101
951 ## - EQUIVALENCE OR CROSS-REFERENCE--GEOGRAPHIC NAME/AREA NAME [OBSOLETE] [CAN/MARC only]
Geografischer Name BO
700 1# - Nebeneintragung - Personenname
Personenname Oliver, Michael R.
Funktionsbezeichnung Hrsg.
IDN des Normdatensatzes oder Standardnummer (DE-627)1257351400
-- (DE-576)187351406
Beziehung edt
Koha-Normdatenidentnummer 8232
830 #0 - Nebeneintragung unter dem Gesamttitel - Einheitstitel
Einheitstitel Springer series in materials science
Bandnummer/Folgebezeichnung 69
Koha-Normdatenidentnummer 69
Datensatzkontrollnummer (DE-627)129227277
-- (DE-576)012793728
-- (DE-600)57080-1
Internationale Standardseriennummer 0933-033X
Kontrollunterfeld am
856 42 - Elektronische Adresse und Zugriff
Uniform Resource Identifier <a href="https://swbplus.bsz-bw.de/bsz109151828inh.htm">https://swbplus.bsz-bw.de/bsz109151828inh.htm</a>
Kontaktstelle für Hilfe beim Zugriff V:DE-576
Zugriffszeiten 2005-06-08
Beilagen Inhaltsverzeichnis
856 42 - Elektronische Adresse und Zugriff
Uniform Resource Identifier <a href="https://swbplus.bsz-bw.de/bsz109151828cov.jpg">https://swbplus.bsz-bw.de/bsz109151828cov.jpg</a>
Kontaktstelle für Hilfe beim Zugriff V:DE-576
Zugriffszeiten 2006-02-10
Beilagen Cover
856 42 - Elektronische Adresse und Zugriff
Uniform Resource Identifier <a href="http://www.loc.gov/catdir/enhancements/fy0816/2003059075-d.html">http://www.loc.gov/catdir/enhancements/fy0816/2003059075-d.html</a>
Verknüpfungstext Publisher description
935 ## -
-- Blocktest
936 rv - OCLC/CONSER MISCELLANEOUS DATA (OCLC); PIECE USED FOR CATALOGING (pre-AACR2) (RLIN)
OCLC control number(s) of parallel record(s) (OCLC); Piece used for cataloging, PUC (RLIN) ZM 7660
-- Chemische Oberflächenbearbeitung
-- Technik
-- Werkstoffwissenschaften und Fertigungstechnik
-- Oberflächentechnik
-- Chemische Oberflächenbearbeitung
-- (DE-627)1271578360
-- (DE-625)rvk/157138:
-- (DE-576)201578360
936 rv - OCLC/CONSER MISCELLANEOUS DATA (OCLC); PIECE USED FOR CATALOGING (pre-AACR2) (RLIN)
OCLC control number(s) of parallel record(s) (OCLC); Piece used for cataloging, PUC (RLIN) ZN 4136
-- Technologie der Mikromechanik
-- Technik
-- Elektrotechnik, Elektronik, Nachrichtentechnik
-- Technologie elektronischer Funktionseinheiten
-- Technologie der Mikromechanik
-- (DE-627)1272128032
-- (DE-625)rvk/157357:
-- (DE-576)202128032
936 rv - OCLC/CONSER MISCELLANEOUS DATA (OCLC); PIECE USED FOR CATALOGING (pre-AACR2) (RLIN)
OCLC control number(s) of parallel record(s) (OCLC); Piece used for cataloging, PUC (RLIN) VN 7150
-- Allgemeines
-- Chemie und Pharmazie
-- Angewandte und technische Chemie
-- Chemische Verfahrenstechnik
-- Mechanische Verfahrenstechnik (Mechanische Verfahren allgemein)
-- Allgemeines
-- (DE-627)1271566397
-- (DE-625)rvk/147605:253
-- (DE-576)201566397
936 bk - OCLC/CONSER MISCELLANEOUS DATA (OCLC); PIECE USED FOR CATALOGING (pre-AACR2) (RLIN)
OCLC control number(s) of parallel record(s) (OCLC); Piece used for cataloging, PUC (RLIN) 53.56
-- Halbleitertechnologie
-- (DE-627)106418688
936 bk - OCLC/CONSER MISCELLANEOUS DATA (OCLC); PIECE USED FOR CATALOGING (pre-AACR2) (RLIN)
OCLC control number(s) of parallel record(s) (OCLC); Piece used for cataloging, PUC (RLIN) 33.72
-- Halbleiterphysik
-- (DE-627)10641917X
942 ## - Zusätzliche Felder (Koha)
Koha-Medientyp Buch
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        MPI CPfS MPI CPfS 2004-02-05 04 A 016 01   ZM 4400 CHEM 10001100 2025-06-23 2025-06-23 Buch

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