Elektronenmikroskopie Grundlagen, Methoden, Anwendungen Stanley L. Flegler; John W. Heckman; Karen L. Klomparens
Material type:
TextLanguage: German Publisher: Heidelberg Berlin [u.a.] Spektrum, Akad. Verl. 1995Description: VIII, 279 S. Ill., graph. DarstContent type: - Text
- ohne Hilfsmittel zu benutzen
- Band
- 3860253417
- Scanning and transmission electron microscopy <dt.>
- Flegler, Stanley L. Scanning and transmission electron microscopy <dt.>
- NAT 176
- TECH 514
- 29 | 32
- 29 | 42
- 11
- ZM 8150
- UH 6300
- ZM 3700
- WC 3100
- UH 5000
- 33.10
- 30.03
- 33.05
- 33.18
Contents:
Action note: Literaturangaben
- Archivierung/Langzeitarchivierung gewährleistet PEBW
| Item type | Current library | Call number | Materials specified | Status | Date due | Barcode | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Buch | MPI CPfS | VG 9900.0 FLEG (Browse shelf(Opens below)) | Available | 10003335 |
Literaturangaben
Literaturangaben
Archivierung/Langzeitarchivierung gewährleistet PEBW pdager DE-31