Normal view MARC view ISBD view

Elektronenmikroskopie Grundlagen, Methoden, Anwendungen

Flegler, Stanley L.

Elektronenmikroskopie Grundlagen, Methoden, Anwendungen Stanley L. Flegler; John W. Heckman; Karen L. Klomparens - VIII, 279 S. Ill., graph. Darst.

Literaturangaben

Literaturangaben

ISBN: 3860253417

Nat. Bib. No.: 95,N34,0697 dnb 95,A45,0828 dnb

Nat. Bib. Agency Control No.: 944183816 DE-101

Subjects--Topical Terms:
Electron microscopy
Elektronenmikroskopie
Optik
Elektronenmikroskopie

Print
Add to your cart (remove)
Suggest for purchase
Save record
BIBTEX Dublin Core MARCXML MARC (non-Unicode/MARC-8) MARC (Unicode/UTF-8) MARC (Unicode/UTF-8, Standard) MODS (XML) RIS ISBD
More searches

Search for this title in:
Andere Bibliotheken (WorldCat) Google Scholar Online-Buchhandel (Bookfinder.com)

Max Planck Institute for Chemical Physics of Solids - Library Catalog

Elektronenmikroskopie Grundlagen, Methoden, Anwendungen