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_aAnalytische Transmissionselektronenmikroskopie _beine Einführung für den Praktiker _cJürgen Thomas; Thomas Gemming |
| 264 | 1 |
_aWien _aHeidelberg [u.a.] _bSpringer _c2013 |
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_aArchivierung prüfen _c20240324 _fDE-4165 _z1 _2pdager |
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_Ds _0(DE-588)4493969-3 _0(DE-627)241911419 _0(DE-576)213009498 _aAnalytische Elektronenmikroskopie _2gnd |
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_aGemming, Thomas _d1969- _0(DE-588)120649748 _0(DE-627)704896648 _0(DE-576)179119214 _4aut _96414 |
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| 776 | 0 | 8 |
_iErscheint auch als _nOnline-Ausgabe _aThomas, Jürgen, 1948 - _tAnalytische Transmissionselektronenmikroskopie _dVienna : Springer, 2013 _hOnline-Ressource (XII, 363 S. 235 Abb, digital) _w(DE-627)1652018034 _w(DE-576)378516159 _z9783709114407 |
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_uhttp://deposit.dnb.de/cgi-bin/dokserv?id=4238409&prov=M&dok_var=1&dok_ext=htm _mX: MVB _qtext/html _v2013-05-01 _3Inhaltstext |
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_uhttps://swbplus.bsz-bw.de/bsz378053019cov.jpg _mV:DE-576 _mX:springer _qimage/jpeg _v20130402155242 _3Cover |
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_uhttps://www.gbv.de/dms/tib-ub-hannover/735144877.pdf _mV:DE-601 _mB:DE-89 _qpdf/application _3Inhaltsverzeichnis |
| 883 |
_81\p _acgwrk _d20241001 _qDE-101 _uhttps://d-nb.info/provenance/plan#cgwrk |
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_aUH 6300 _bTransmissionselektronenmikroskopie insgesamt, Allgemeines _kPhysik _kKlassische Felder, Elektrizitätslehre, Optik, Quantenoptik, Laser, Relativitätstheorie _kQuantenoptik, Laser- und Masertheorie, Quantenelektronik, Teilchenoptik, Relativitätstheorie _kTeilchenoptik, Ionenstrahloptik _kTeilchenoptik, Elektronenmikroskopie _kTransmissionselektronenmikroskopie _kTransmissionselektronenmikroskopie insgesamt, Allgemeines _0(DE-627)1270714988 _0(DE-625)rvk/159498: _0(DE-576)200714988 |
| 936 | b | k |
_a33.68 _jOberflächen _jDünne Schichten _jGrenzflächen _xPhysik _0(DE-627)10640444X |
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_a51.20 _jWerkstoffoberflächeneigenschaften _0(DE-627)106408410 |
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_c6965 _d6965 |
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