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_aReimer, Ludwig _d1928- _0(DE-588)13230130X _0(DE-627)521409535 _0(DE-576)299060977 _4aut _94965 |
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_aTransmission electron microscopy _bphysics of image formation _cL. Reimer; H. Kohl |
250 | _a5. ed. | ||
264 | 1 |
_aNew York, NY _bSpringer _c2008 |
|
300 |
_aXVI, 587 S. _bIll., graph. Darst. |
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336 |
_aText _btxt _2rdacontent |
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337 |
_aohne Hilfsmittel zu benutzen _bn _2rdamedia |
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338 |
_aBand _bnc _2rdacarrier |
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490 | 1 |
_aSpringer series in optical sciences _v36 |
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500 | _aLiteraturverz. S. [491] - 574 | ||
500 | _aHier auch später erschienene, unveränderte Nachdrucke | ||
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_aArchivierung/Langzeitarchivierung gewährleistet _fSSG _2pdager _5DE-21 |
|
583 | 1 |
_aArchivierung prüfen _c20240324 _fDE-4165 _z3 _2pdager |
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_Ds _0(DE-588)4215608-7 _0(DE-627)105055905 _0(DE-576)210226277 _aDurchstrahlungselektronenmikroskopie _2gnd |
689 | 1 | _5(DE-627) | |
700 | 1 |
_81\p _aKohl, Helmut _d1955- _0(DE-588)137715617 _0(DE-627)594856728 _0(DE-576)276527860 _4aut _95310 |
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776 | 0 | 8 |
_iErscheint auch als _nOnline-Ausgabe _tTransmission Electron Microscopy _dNew York, NY : Springer New York, 2008 _hOnline-Ressource (digital) _w(DE-627)1647724937 _w(DE-576)305555618 _z9780387347585 |
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_aSpringer series in optical sciences _v36 _936.2008 _w(DE-627)130167312 _w(DE-576)015710335 _w(DE-600)519636-X _x0342-4111 _7am |
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_uhttp://www.gbv.de/dms/ohb-opac/368355136.pdf _mV:DE-601 _mB:DE-Goe116 _qpdf/application _v2013-02-19 _yInhaltsverzeichnis _3Inhaltsverzeichnis |
856 | 4 | 2 |
_uhttps://swbplus.bsz-bw.de/bsz281693625cov.jpg _mV:DE-576 _mX:springer _qimage/jpeg _v20090119131819 _3Cover |
883 |
_81\p _acgwrk _d20241001 _qDE-101 _uhttps://d-nb.info/provenance/plan#cgwrk |
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936 | r | v |
_aUH 6300 _bTransmissionselektronenmikroskopie insgesamt, Allgemeines _kPhysik _kKlassische Felder, Elektrizitätslehre, Optik, Quantenoptik, Laser, Relativitätstheorie _kQuantenoptik, Laser- und Masertheorie, Quantenelektronik, Teilchenoptik, Relativitätstheorie _kTeilchenoptik, Ionenstrahloptik _kTeilchenoptik, Elektronenmikroskopie _kTransmissionselektronenmikroskopie _kTransmissionselektronenmikroskopie insgesamt, Allgemeines _0(DE-627)1270714988 _0(DE-625)rvk/159498: _0(DE-576)200714988 |
936 | r | v |
_aVG 9900 _bAllgemeines _kChemie und Pharmazie _kAnalytische Chemie _kAnalytische Chemie allgemein _kRöntgenstrukturanalyse _kAllgemeines _0(DE-627)1271587106 _0(DE-625)rvk/147245:253 _0(DE-576)201587106 |
936 | b | k |
_a33.05 _jExperimentalphysik _0(DE-627)181571102 |
936 | b | k |
_a33.18 _jOptik _0(DE-627)106419102 |
936 | b | k |
_a33.38 _jQuantenoptik _jnichtlineare Optik _0(DE-627)106407449 |
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999 |
_c6141 _d6141 |