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_aElectron backscatter diffraction in materials science _cAdam J. Schwartz ... ed. |
| 250 | _a2. ed. | ||
| 264 | 1 |
_aNew York, NY _bSpringer _c2009 |
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| 300 |
_aXXII, 403 S. _bzahlr. Ill., graph. Darst., Kt. _c269 mm x 196 mm |
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_aohne Hilfsmittel zu benutzen _bn _2rdamedia |
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_aBand _bnc _2rdacarrier |
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| 500 | _aLiteraturangaben | ||
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_aArchivierung prüfen _c20240324 _fDE-4165 _z3 _2pdager |
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_aMaterials _xMicroscopy |
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_Ds _0(DE-588)4079184-1 _0(DE-627)106075349 _0(DE-576)209211288 _aWerkstoffkunde _2gnd |
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|
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_iErscheint auch als _nOnline-Ausgabe _aSchwartz, Adam J. _tElectron Backscatter Diffraction in Materials Science _dBoston, MA : Springer Science+Business Media, LLC, 2009 _hOnline-Ressource (XXII, 406p. 320 illus., 50 illus. in color, digital) _w(DE-627)1649893957 _w(DE-576)327000163 _z9780387881362 |
| 776 | 0 | 8 |
_iErscheint auch als _nOnline-Ausgabe _tElectron backscatter diffraction in materials science _b2. ed. _dNew York, NY : Springer, 2009 _w(DE-627)1653567147 _w(DE-576)402176421 _z9780387881355 |
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_uhttps://swbplus.bsz-bw.de/bsz302803726inh.htm _mB:DE-576;springer _qapplication/pdf _v20090623093600 _3Inhaltsverzeichnis |
| 856 | 4 | 2 |
_uhttps://swbplus.bsz-bw.de/bsz302803726kap.htm _mB:DE-576;springer _qapplication/pdf _v20090623101948 _3Kapitel 2 |
| 935 | _isf | ||
| 935 | _iBlocktest | ||
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_aUQ 5500 _bElektronenbeugungsmethoden _kPhysik _kKristallographie _kKristallstrukturbestimmung _kElektronenbeugungsmethoden _0(DE-627)127159403X _0(DE-625)rvk/146526: _0(DE-576)20159403X |
| 936 | r | v |
_aZM 3850 _bSonstige _kTechnik _kWerkstoffwissenschaften und Fertigungstechnik _kWerkstoffwissenschaft _kWerkstoffprüfung allgemein _kSonstige _0(DE-627)1271732971 _0(DE-625)rvk/157030: _0(DE-576)201732971 |
| 936 | b | k |
_a51.30 _jWerkstoffprüfung _jWerkstoffuntersuchung _0(DE-627)106414054 |
| 942 | _cBK | ||
| 951 | _aBO | ||
| 999 |
_c6041 _d6041 |
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