| 000 | 04781cam a2200913 c 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | 1611184452 | ||
| 003 | DE-627 | ||
| 005 | 20250624174406.0 | ||
| 007 | tu | ||
| 008 | 071016s2008 xxk||||| 00| ||eng c | ||
| 010 | _a 2007041704 | ||
| 020 |
_a9780470027844 _ccloth _9978-0-470-02784-4 |
||
| 020 |
_a9780470027851 _cpbk. _9978-0-470-02785-1 |
||
| 020 |
_a0470027843 _90-470-02784-3 |
||
| 020 |
_a0470027851 _90-470-02785-1 |
||
| 035 | _a(DE-D210)CP000006205 | ||
| 035 | _a(DE-576)277156483 | ||
| 035 | _a(DE-627)1611184452 | ||
| 035 | _a(DE-599)BSZ277156483 | ||
| 035 | _a(OCoLC)637015614 | ||
| 035 | _a(OCoLC)154798426 | ||
| 040 |
_aDE-627 _bger _cDE-627 _erda |
||
| 041 | _aeng | ||
| 044 |
_cXA-GB _cXD-US _cXA-DE |
||
| 050 | 0 | _aTA417.23 | |
| 072 | 7 |
_aSCI _2bisacsh |
|
| 082 | 0 | _a620.11299 | |
| 082 | 0 |
_a620.1/1299 _qOCLC |
|
| 084 |
_aVE 9670 _2rvk _0(DE-625)rvk/147161:253 |
||
| 084 |
_aUQ 8000 _2rvk _0(DE-625)rvk/146584: |
||
| 084 |
_aUQ 5000 _2rvk _0(DE-625)rvk/146520: |
||
| 084 |
_aZM 3700 _2rvk _0(DE-625)rvk/157028: |
||
| 084 |
_a51.30 _2bkl |
||
| 084 |
_a33.18 _2bkl |
||
| 084 |
_a50.94 _2bkl |
||
| 100 | 1 |
_aBrandon, David G. _eVerfasserIn _0(DE-627)1230404295 _0(DE-576)160404290 _4aut _97689 |
|
| 245 | 1 | 0 |
_aMicrostructural characterization of materials _cDavid Brandon and Wayne D. Kaplan, Technion, Israel Institute of Technology, Israel |
| 250 | _a2nd edition | ||
| 264 | 1 |
_aChichester _bJohn Wiley & Sons, Ltd _c[2008] |
|
| 264 | 4 | _c© 2008 | |
| 300 |
_axiv, 536 Seiten _bIllustrationen |
||
| 336 |
_aText _btxt _2rdacontent |
||
| 337 |
_aohne Hilfsmittel zu benutzen _bn _2rdamedia |
||
| 338 |
_aBand _bnc _2rdacarrier |
||
| 490 | 0 | _aQuantitative software engineering series | |
| 500 | _aLiteraturangaben | ||
| 583 | 1 |
_aArchivierung prüfen _c20200919 _fDE-640 _z3 _2pdager |
|
| 583 | 1 |
_aArchivierung prüfen _c20240324 _fDE-4165 _z3 _2pdager |
|
| 650 | 0 |
_aMaterials _xMicroscopy |
|
| 650 | 0 | _aMicrostructure | |
| 689 | 0 | 0 |
_Ds _0(DE-588)4720368-7 _0(DE-627)346209803 _0(DE-576)215727401 _aMaterialcharakterisierung _2gnd |
| 689 | 0 | 1 |
_Ds _0(DE-588)4065579-9 _0(DE-627)106118315 _0(DE-576)209159383 _aWerkstoff _2gnd |
| 689 | 0 | 2 |
_Ds _0(DE-588)4131028-7 _0(DE-627)104202998 _0(DE-576)209624019 _aMikrostruktur _2gnd |
| 689 | 0 | 3 |
_Ds _0(DE-588)4178306-2 _0(DE-627)105342483 _0(DE-576)209983493 _aRöntgenbeugung _2gnd |
| 689 | 0 | 4 |
_Ds _0(DE-588)4039238-7 _0(DE-627)106228692 _0(DE-576)20903419X _aMikroskopie _2gnd |
| 689 | 0 | 5 |
_Ds _0(DE-588)4014327-2 _0(DE-627)106340549 _0(DE-576)208907351 _aElektronenmikroskopie _2gnd |
| 689 | 0 | 6 |
_Ds _0(DE-588)4009840-0 _0(DE-627)104409789 _0(DE-576)208884912 _aChemische Analyse _2gnd |
| 689 | 0 | _5(DE-627) | |
| 689 | 1 | 0 |
_Ds _0(DE-588)4065579-9 _0(DE-627)106118315 _0(DE-576)209159383 _aWerkstoff _2gnd |
| 689 | 1 | 1 |
_Ds _0(DE-588)4131028-7 _0(DE-627)104202998 _0(DE-576)209624019 _aMikrostruktur _2gnd |
| 689 | 1 | 2 |
_Ds _0(DE-588)4037934-6 _0(DE-627)106234846 _0(DE-576)209027282 _aWerkstoffprüfung _2gnd |
| 689 | 1 | _5(DE-627) | |
| 700 | 1 |
_aKaplan, Wayne D. _eVerfasserIn _4aut |
|
| 776 | 0 | 8 |
_iErscheint auch als _nOnline-Ausgabe _aBrandon, David G. _tMicrostructural characterization of materials _b2. ed. _dChichester [u.a.] : Wiley, 2008 _hXIV, 536 S. _w(DE-627)1647786703 _w(DE-576)305626574 _z9780470027844 |
| 856 | 4 | 2 |
_uhttp://www.gbv.de/dms/ilmenau/toc/546682111.PDF _mV:DE-601 _mB:DE-ilm1 _qpdf/application _yInhaltsverzeichnis _3Inhaltsverzeichnis |
| 856 | 4 | 2 |
_uhttp://www.loc.gov/catdir/enhancements/fy0827/2007041704-d.html _yPublisher description |
| 856 | 4 | 2 |
_uhttp://www.loc.gov/catdir/enhancements/fy0827/2007041704-t.html _yTable of contents only |
| 889 | _w(DE-627)546682111 | ||
| 935 | _imdedup | ||
| 936 | r | v |
_aVE 9670 _bAllgemeines _kChemie und Pharmazie _kPhysikalische und theoretische Chemie _kPhysikalische und Theoretische Chemie allgemein _kWerkstoffkunde (Materialwissenschaft); Glaschemie s.a. VN 6020 Anorganische Werkstoffe _kAllgemeines _0(DE-627)1271536382 _0(DE-625)rvk/147161:253 _0(DE-576)201536382 |
| 936 | r | v |
_aUQ 8000 _bAllgemeine Lehrbücher _kPhysik _kMaterialwissenschaft _kAllgemeine Lehrbücher _0(DE-627)1271479095 _0(DE-625)rvk/146584: _0(DE-576)201479095 |
| 936 | r | v |
_aUQ 5000 _bAllgemeines _kPhysik _kKristallographie _kKristallstrukturbestimmung _kAllgemeines _0(DE-627)1271486938 _0(DE-625)rvk/146520: _0(DE-576)201486938 |
| 936 | r | v |
_aZM 3700 _bzerstörungsfreie _kTechnik _kWerkstoffwissenschaften und Fertigungstechnik _kWerkstoffwissenschaft _kWerkstoffprüfung allgemein _kzerstörungsfreie _0(DE-627)1271516969 _0(DE-625)rvk/157028: _0(DE-576)201516969 |
| 936 | b | k |
_a51.30 _jWerkstoffprüfung _jWerkstoffuntersuchung _0(DE-627)106414054 |
| 936 | b | k |
_a33.18 _jOptik _0(DE-627)106419102 |
| 936 | b | k |
_a50.94 _jMikrosystemtechnik _jNanotechnologie _0(DE-627)181570645 |
| 942 | _cBK | ||
| 951 | _aBO | ||
| 999 |
_c5806 _d5806 |
||