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_aUH 6300 _bTransmissionselektronenmikroskopie insgesamt, Allgemeines _kPhysik _kKlassische Felder, Elektrizitätslehre, Optik, Quantenoptik, Laser, Relativitätstheorie _kQuantenoptik, Laser- und Masertheorie, Quantenelektronik, Teilchenoptik, Relativitätstheorie _kTeilchenoptik, Ionenstrahloptik _kTeilchenoptik, Elektronenmikroskopie _kTransmissionselektronenmikroskopie _kTransmissionselektronenmikroskopie insgesamt, Allgemeines _0(DE-627)1270714988 _0(DE-625)rvk/159498: _0(DE-576)200714988 |
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_aZM 3700 _bzerstörungsfreie _kTechnik _kWerkstoffwissenschaften und Fertigungstechnik _kWerkstoffwissenschaft _kWerkstoffprüfung allgemein _kzerstörungsfreie _0(DE-627)1271516969 _0(DE-625)rvk/157028: _0(DE-576)201516969 |
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_aWC 3100 _bElektronenmikroskopie _kBiologie _kMethoden _kPhysikalisch-chemische Methoden _kMikroskopie und mikroskopische Techniken allgemein _kElektronenmikroskopie _0(DE-627)1271535939 _0(DE-625)rvk/148081: _0(DE-576)201535939 |
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_aUH 5000 _bAllgemeines _kPhysik _kKlassische Felder, Elektrizitätslehre, Optik, Quantenoptik, Laser, Relativitätstheorie _kPhysikalische Optik _kAllgemeines _0(DE-627)1271493233 _0(DE-625)rvk/145647: _0(DE-576)201493233 |
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