000 03765cam a2200733 c 4500
001 30840422X
003 DE-627
005 20250624174237.0
007 tu
008 991222s2000 gw ||||| 00| ||eng c
015 _a00,N04,0390
_2dnb
015 _a00,A26,0710
_2dnb
016 7 _a3540667180
_2UK
016 7 _a95779374X
_2DE-101
020 _a3540667180
_cPp. : DM 149.00
_93-540-66718-0
024 3 _a9783540667186
035 _a(DE-D210)CP000003007
035 _a(DE-576)084566213
035 _a(DE-627)30840422X
035 _a(DE-599)GBV30840422X
035 _a(OCoLC)247800124
035 _a(OCoLC)42934618
035 _a(AT-OBV)AC03072964
040 _aDE-627
_bger
_cDE-627
_erakwb
041 _aeng
044 _cXA-DE
_cXD-US
_cXA-ES
050 0 _aQH212.S33
082 0 _a621.38152
082 0 _a621.3815/2
084 _a29
_2sdnb
084 _a11
_2ssgn
084 _aUH 6300
_2rvk
_0(DE-625)rvk/159498:
084 _aUH 6310
_2rvk
_0(DE-625)rvk/159500:
084 _a33.68
_2bkl
084 _a33.72
_2bkl
084 _a33.05
_2bkl
245 0 0 _aAdvances in scanning probe microscopy
_cT. Sakurai ... (eds.)
263 _aPp. : ca. DM 149.00
264 1 _aBerlin
_aHeidelberg [u.a.]
_bSpringer
_c2000
300 _aXIV, 341 S
_bIll., graph. Darst
336 _aText
_btxt
_2rdacontent
337 _aohne Hilfsmittel zu benutzen
_bn
_2rdamedia
338 _aBand
_bnc
_2rdacarrier
490 1 _aAdvances in materials research
_v2
505 8 _aLiteraturangaben
583 1 _aArchivierung/Langzeitarchivierung gewährleistet
_fPEBW
_2pdager
_5DE-31
653 0 _aScanning probe microscopy
689 0 0 _Ds
_0(DE-588)4330328-6
_0(DE-627)133215881
_0(DE-576)211310662
_aRastersondenmikroskopie
_2gnd
689 0 _5DE-101
689 1 0 _Ds
_0(DE-588)4330329-8
_0(DE-627)13321589X
_0(DE-576)211310670
_aRastermikroskopie
_2gnd
689 1 _5(DE-627)
700 1 _aWatanabe, Yousuke
_4oth
700 1 _aSakurai, Toshio
_eHrsg.
_0(DE-588)1158102968
_0(DE-627)1021815020
_0(DE-576)50361114X
_4edt
_97552
830 0 _aAdvances in materials research
_v2
_92
_w(DE-627)270132066
_w(DE-576)070330808
_w(DE-600)1476989-X
_x1435-1889
_7am
856 4 2 _uhttp://www.gbv.de/dms/ilmenau/toc/30840422X.PDF
_mV:DE-601
_mB:DE-ilm1
_qpdf/application
_yInhaltsverzeichnis
_3Inhaltsverzeichnis
935 _iBlocktest
936 r v _aUH 6300
_bTransmissionselektronenmikroskopie insgesamt, Allgemeines
_kPhysik
_kKlassische Felder, Elektrizitätslehre, Optik, Quantenoptik, Laser, Relativitätstheorie
_kQuantenoptik, Laser- und Masertheorie, Quantenelektronik, Teilchenoptik, Relativitätstheorie
_kTeilchenoptik, Ionenstrahloptik
_kTeilchenoptik, Elektronenmikroskopie
_kTransmissionselektronenmikroskopie
_kTransmissionselektronenmikroskopie insgesamt, Allgemeines
_0(DE-627)1270714988
_0(DE-625)rvk/159498:
_0(DE-576)200714988
936 r v _aUH 6310
_bSekundärelektronen-Rasterelektronenmikroskopie einschließlich Elektronenstrahlmikroanalyse insgesamt, Allgemeines
_kPhysik
_kKlassische Felder, Elektrizitätslehre, Optik, Quantenoptik, Laser, Relativitätstheorie
_kQuantenoptik, Laser- und Masertheorie, Quantenelektronik, Teilchenoptik, Relativitätstheorie
_kTeilchenoptik, Ionenstrahloptik
_kTeilchenoptik, Elektronenmikroskopie
_kSekundärelektronen-Rasterelektronenmikroskopie einschließlich Elektronenstrahlmikroanalyse
_kSekundärelektronen-Rasterelektronenmikroskopie einschließlich Elektronenstrahlmikroanalyse insgesamt, Allgemeines
_0(DE-627)1271513714
_0(DE-625)rvk/159500:
_0(DE-576)201513714
936 b k _a33.68
_jOberflächen
_jDünne Schichten
_jGrenzflächen
_xPhysik
_0(DE-627)10640444X
936 b k _a33.72
_jHalbleiterphysik
_0(DE-627)10641917X
936 b k _a33.05
_jExperimentalphysik
_0(DE-627)181571102
942 _cBK
951 _aBO
999 _c2871
_d2871