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_aPraxis der Rasterelektronenmikroskopie und Mikrobereichsanalyse _cPeter Fritz Schmidt ... |
| 264 | 1 |
_aRenningen-Malmsheim _bexpert-Verl. _c1994 |
|
| 300 |
_a810 S. _bzahlr. Ill., graph. Darst. |
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| 336 |
_aText _btxt _2rdacontent |
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_aohne Hilfsmittel zu benutzen _bn _2rdamedia |
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_aBand _bnc _2rdacarrier |
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| 490 | 1 |
_aKontakt & Studium _v444 _aMeßtechnik |
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| 500 | _aLiteraturangaben | ||
| 583 | 1 |
_aArchivierung/Langzeitarchivierung gewährleistet _fPEBW _2pdager _5DE-24 |
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_aSchmidt, Peter Fritz _0(DE-588)172743540 _0(DE-627)697675122 _0(DE-576)133600742 _4oth _96128 |
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_aKontakt & Studium _v444 : Meßtechnik _9444 _w(DE-627)129421669 _w(DE-576)028408101 _w(DE-600)190361-5 _x0171-1938 _7am |
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_uhttps://www.gbv.de/dms/ohb-opac/147829402.pdf _mV:DE-601 _mB:DE-Goe116 _qpdf/application _3Inhaltsverzeichnis |
| 889 | _w(DE-627)272334677 | ||
| 935 | _iBlocktest | ||
| 936 | r | v |
_aUH 6310 _bSekundärelektronen-Rasterelektronenmikroskopie einschließlich Elektronenstrahlmikroanalyse insgesamt, Allgemeines _kPhysik _kKlassische Felder, Elektrizitätslehre, Optik, Quantenoptik, Laser, Relativitätstheorie _kQuantenoptik, Laser- und Masertheorie, Quantenelektronik, Teilchenoptik, Relativitätstheorie _kTeilchenoptik, Ionenstrahloptik _kTeilchenoptik, Elektronenmikroskopie _kSekundärelektronen-Rasterelektronenmikroskopie einschließlich Elektronenstrahlmikroanalyse _kSekundärelektronen-Rasterelektronenmikroskopie einschließlich Elektronenstrahlmikroanalyse insgesamt, Allgemeines _0(DE-627)1271513714 _0(DE-625)rvk/159500: _0(DE-576)201513714 |
| 936 | r | v |
_aWC 3100 _bElektronenmikroskopie _kBiologie _kMethoden _kPhysikalisch-chemische Methoden _kMikroskopie und mikroskopische Techniken allgemein _kElektronenmikroskopie _0(DE-627)1271535939 _0(DE-625)rvk/148081: _0(DE-576)201535939 |
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_aZM 3700 _bzerstörungsfreie _kTechnik _kWerkstoffwissenschaften und Fertigungstechnik _kWerkstoffwissenschaft _kWerkstoffprüfung allgemein _kzerstörungsfreie _0(DE-627)1271516969 _0(DE-625)rvk/157028: _0(DE-576)201516969 |
| 936 | r | v |
_aUH 6300 _bTransmissionselektronenmikroskopie insgesamt, Allgemeines _kPhysik _kKlassische Felder, Elektrizitätslehre, Optik, Quantenoptik, Laser, Relativitätstheorie _kQuantenoptik, Laser- und Masertheorie, Quantenelektronik, Teilchenoptik, Relativitätstheorie _kTeilchenoptik, Ionenstrahloptik _kTeilchenoptik, Elektronenmikroskopie _kTransmissionselektronenmikroskopie _kTransmissionselektronenmikroskopie insgesamt, Allgemeines _0(DE-627)1270714988 _0(DE-625)rvk/159498: _0(DE-576)200714988 |
| 936 | b | k |
_a33.61 _jFestkörperphysik _0(DE-627)106419145 |
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_a33.03 _jPhysikalische Einheiten _jPhysikalische Konstanten _0(DE-627)106419080 |
| 936 | b | k |
_a33.18 _jOptik _0(DE-627)106419102 |
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_a33.05 _jExperimentalphysik _0(DE-627)181571102 |
| 942 | _cBK | ||
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| 999 |
_c1605 _d1605 |
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