000 03318cam a2200673 c 4500
001 276462912
003 DE-627
005 20250624174233.0
007 tu
008 931126s1993 xxu||||| 00| ||eng c
010 _a 92040047
020 _a0195071506
_90-19-507150-6
035 _a(DE-D210)CP000001374
035 _a(DE-576)036204625
035 _a(DE-627)276462912
035 _a(DE-599)GBV276462912
035 _a(OCoLC)246734924
035 _a(OCoLC)27035849
040 _aDE-627
_bger
_cDE-627
_erakwb
041 _aeng
044 _cXD-US
_cXA-GB
050 0 _aQH212.S35
082 0 _a502.82
082 0 _a502/.8/2
084 _aUH 6320
_2rvk
_0(DE-625)rvk/145762:
084 _a33.05
_2bkl
084 _a33.18
_2bkl
084 _a33.68
_2bkl
090 _aa
100 1 _aChen, C. Julian
_0(DE-588)1080876596
_0(DE-627)845353969
_0(DE-576)453803644
_4aut
_97108
245 1 0 _aIntroduction to scanning tunneling microscopy
_cC. Julian Chen
264 1 _aNew York, NY [u.a.]
_bOxford Univ. Press
_c1993
300 _aXXII, 412 S.
_bIll., graph. Darst.
336 _aText
_btxt
_2rdacontent
337 _aohne Hilfsmittel zu benutzen
_bn
_2rdamedia
338 _aBand
_bnc
_2rdacarrier
490 1 _aOxford series in optical and imaging sciences
_v4
505 8 _aIncludes bibliographical references (p. 383 - 404) and index
583 1 _aArchivierung prüfen
_c20240324
_fDE-4165
_z3
_2pdager
650 0 _aScanning tunneling microscopy
689 0 0 _Ds
_0(DE-588)4252995-5
_0(DE-627)104588071
_0(DE-576)210527463
_aRastertunnelmikroskopie
_2gnd
689 0 _5DE-101
776 0 8 _iErscheint auch als
_nOnline-Ausgabe
_aChen, C. Julian
_tIntroduction to scanning tunneling microscopy
_dNew York : Oxford University Press, 1993
_hOnline-Ressource (xxii, 412 p., 31 p. of plates)
_w(DE-627)1658509986
_w(DE-576)515560065
_z0195071506
_z9780195071504
776 0 8 _iErscheint auch als
_nOnline-Ausgabe
_aChen, C. Julian
_tIntroduction to scanning tunneling microscopy
_dNew York : Oxford University Press, 1993
_hOnline-Ressource (xxii, 412 p., 31 p. of plates)
_w(DE-627)092365469
_z9780198023562
_z0198023561
830 0 _aOxford series on optical sciences
_v4
_94
_w(DE-627)130929107
_w(DE-576)022718559
_w(DE-600)1055927-9
_7am
856 4 2 _uhttp://www.gbv.de/dms/ilmenau/toc/12227962X.PDF
_mV:DE-601
_qapplication/pdf
_3Inhaltsverzeichnis
856 4 2 _uhttp://www.loc.gov/catdir/enhancements/fy0635/92040047-d.html
_yPublisher description
856 4 2 _uhttp://www.loc.gov/catdir/enhancements/fy0635/92040047-t.html
_yTable of contents
889 _w(DE-627)12227962X
935 _imdedup
935 _iBlocktest
935 _isf
936 r v _aUH 6320
_bRastersondenmikroskopie allgemein
_kPhysik
_kKlassische Felder, Elektrizitätslehre, Optik, Quantenoptik, Laser, Relativitätstheorie
_kQuantenoptik, Laser- und Masertheorie, Quantenelektronik, Teilchenoptik, Relativitätstheorie
_kTeilchenoptik, Ionenstrahloptik
_kTeilchenoptik, Elektronenmikroskopie
_kRastersondenmikroskopie allgemein
_0(DE-627)1271643618
_0(DE-625)rvk/145762:
_0(DE-576)201643618
936 b k _a33.05
_jExperimentalphysik
_0(DE-627)181571102
936 b k _a33.18
_jOptik
_0(DE-627)106419102
936 b k _a33.68
_jOberflächen
_jDünne Schichten
_jGrenzflächen
_xPhysik
_0(DE-627)10640444X
942 _cBK
951 _aBO
999 _c1299
_d1299