TY  - BOOK
AU  - Pecharsky,Vitalij K.
AU  - Zavalij,Peter Y.
TI  - Fundamentals of powder diffraction and structural characterization of materials
SN  - 9780387095783
AV  - QC482.D5 
U1  - 620 
PY  - 2009///
CY  - New York, NY
PB  - Springer
KW  - Powders
KW  - Optical properties
KW  - Measurement
KW  - X-rays
KW  - Diffraction
KW  - X-ray crystallography
UR  - http://www.loc.gov/catdir/enhancements/fy1315/2008930122-d.html
UR  - https://swbplus.bsz-bw.de/bsz302803033inh.htm
UR  - https://swbplus.bsz-bw.de/bsz302803033kap.htm
UR  - https://swbplus.bsz-bw.de/bsz302803033vor.htm
UR  - https://swbplus.bsz-bw.de/bsz302803033cov.jpg
UR  - http://deposit.dnb.de/cgi-bin/dokserv?id=3130383&prov=M&dok_var=1&dok_ext=htm
ER  -