TY  - BOOK
AU  - Zhou,Weilie
AU  - Wang,Zhong Lin
TI  - Scanning microscopy for nanotechnology: techniques and applications
SN  - 0387396209
AV  - QH212.S3 
U1  - 502.825 
PY  - 2007///
CY  - New York, NY
PB  - Springer
KW  - Scanning electron microscopy
KW  - Nanotechnology
N1  - Literaturangaben
UR  - https://swbplus.bsz-bw.de/bsz258536926cov.jpg
UR  - https://swbplus.bsz-bw.de/bsz258536926kap.htm
UR  - https://swbplus.bsz-bw.de/bsz258536926vor.htm
UR  - https://swbplus.bsz-bw.de/bsz258536926inh.htm
UR  - http://www.loc.gov/catdir/enhancements/fy0823/2006925865-d.html
UR  - http://deposit.dnb.de/cgi-bin/dokserv?id=2784081&prov=M&dok_var=1&dok_ext=htm
ER  -