TY  - BOOK
AU  - Flegler,Stanley L.
AU  - Heckman,John W.
AU  - Klomparens,Karen L.
AU  - Flegler,Stanley L.
TI  - Elektronenmikroskopie: Grundlagen, Methoden, Anwendungen
SN  - 3860253417
PY  - 1995///
CY  - Heidelberg, Berlin [u.a.]
PB  - Spektrum, Akad. Verl.
KW  - Electron microscopy
KW  - Elektronenmikroskopie
KW  - gnd
KW  - Optik
N1  - Literaturangaben; Literaturangaben
UR  - http://www.gbv.de/dms/hebis-darmstadt/toc/35856343.pdf
UR  - http://www.gbv.de/dms/ilmenau/toc/186849850.PDF
ER  -