Scanning tunneling microscopy (Record no. 908)
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| 000 -Satzkennung | |
|---|---|
| Kontrollfeld mit fester Länge | 02180cam a2200385 ca4500 |
| 001 - Kontrollnummer | |
| Kontrollfeld | 1097036669 |
| 003 - Kontrollnummer Identifier | |
| Kontrollfeld | DE-627 |
| 005 - Datum und Zeit der letzten Transaktion | |
| Kontrollfeld | 20250624174318.0 |
| 007 - Feld mit fester Länge zur physischen Beschreibung - Allgemeine Information | |
| Kontrollfeld mit fester Länge | tu |
| 008 - Feld mit fester Länge zur physischen Beschreibung - Allgemeine Angaben | |
| Kontrollfeld mit fester Länge | 920123m19929999xx ||||| 00| ||eng c |
| 015 ## - Nummer der Nationalbibliografie | |
| Nummer der Nationalbibliografie | 92,N02,0257 |
| Quelle | dnb |
| 016 7# - Kontrollnummer der nationalbibliografischen Agentur | |
| Datensatzkontrollnummer | 551871814 |
| Quelle | DE-101 |
| 035 ## - Systemkontrollnummer | |
| System-Kontrollnummer | (DE-D210)CP000000950 |
| 035 ## - Systemkontrollnummer | |
| System-Kontrollnummer | (DE-576)027036669 |
| 035 ## - Systemkontrollnummer | |
| System-Kontrollnummer | (DE-627)1097036669 |
| 035 ## - Systemkontrollnummer | |
| System-Kontrollnummer | (DE-599)DNB551871814 |
| 040 ## - Katalogisierungsquelle | |
| Original-Katalogisierungsstelle | DE-627 |
| Katalogisierungssprache | ger |
| Übertragungsstelle | DE-627 |
| Beschreibungsfestlegungen | rakwb |
| 041 ## - Sprachcode | |
| Sprachcode des Textes/der Tonspur oder des separaten Titels | eng |
| 076 b# - | |
| -- | mb |
| 084 ## - Andere Notation | |
| Notation | UH 6320 |
| Quelle der Nummer | rvk |
| IDN des Normdatensatzes oder Standardnummer | (DE-625)rvk/145762: |
| 084 ## - Andere Notation | |
| Notation | UH 6310 |
| Quelle der Nummer | rvk |
| IDN des Normdatensatzes oder Standardnummer | (DE-625)rvk/159500: |
| 245 00 - Titel | |
| Titel | Scanning tunneling microscopy |
| 264 #1 - Produktion, Veröffentlichung, Distribution, Herstellung und Urheberrechtsvermerk | |
| Herstellungs-, Veröffentlichungs- Vertriebs-, Erzeugungsort | Berlin [u.a.] |
| Produzent, Herausgeber, Distributor, Hersteller | Springer |
| Datum der Herstellung, der Veröffentlichung, des Vertriebs oder des Urheberschutzvermerks | 1992- |
| 336 ## - Inhaltstyp | |
| Inhaltstypterm | Text |
| Inhaltstypcode | txt |
| Quelle | rdacontent |
| 337 ## - Medientyp | |
| Bezeichnung des Medientyps | ohne Hilfsmittel zu benutzen |
| Medientypcode | n |
| Quelle | rdamedia |
| 338 ## - Datenträgertyp | |
| Datenträgertypbezeichnung | Band |
| Datenträgertypcode | nc |
| Quelle | rdacarrier |
| 490 0# - Gesamttitelangabe | |
| Gesamttitelangabe | Springer series in surface sciences |
| Bandnummer/Folgebezeichnung | ... |
| 650 #0 - Nebeneintragung unter einem Schlagwort - Sachschlagwort | |
| Sachschlagwort oder geografischer Name als Eintragungselement | Scanning tunneling microscopy |
| 689 00 - | |
| -- | s |
| -- | (DE-588)4252995-5 |
| -- | (DE-627)104588071 |
| -- | (DE-576)210527463 |
| -- | Rastertunnelmikroskopie |
| -- | gnd |
| 689 0# - | |
| -- | (DE-627) |
| 951 ## - EQUIVALENCE OR CROSS-REFERENCE--GEOGRAPHIC NAME/AREA NAME [OBSOLETE] [CAN/MARC only] | |
| Geografischer Name | MC |
| 936 rv - OCLC/CONSER MISCELLANEOUS DATA (OCLC); PIECE USED FOR CATALOGING (pre-AACR2) (RLIN) | |
| OCLC control number(s) of parallel record(s) (OCLC); Piece used for cataloging, PUC (RLIN) | UH 6320 |
| -- | Rastersondenmikroskopie allgemein |
| -- | Physik |
| -- | Klassische Felder, Elektrizitätslehre, Optik, Quantenoptik, Laser, Relativitätstheorie |
| -- | Quantenoptik, Laser- und Masertheorie, Quantenelektronik, Teilchenoptik, Relativitätstheorie |
| -- | Teilchenoptik, Ionenstrahloptik |
| -- | Teilchenoptik, Elektronenmikroskopie |
| -- | Rastersondenmikroskopie allgemein |
| -- | (DE-627)1271643618 |
| -- | (DE-625)rvk/145762: |
| -- | (DE-576)201643618 |
| 936 rv - OCLC/CONSER MISCELLANEOUS DATA (OCLC); PIECE USED FOR CATALOGING (pre-AACR2) (RLIN) | |
| OCLC control number(s) of parallel record(s) (OCLC); Piece used for cataloging, PUC (RLIN) | UH 6310 |
| -- | Sekundärelektronen-Rasterelektronenmikroskopie einschließlich Elektronenstrahlmikroanalyse insgesamt, Allgemeines |
| -- | Physik |
| -- | Klassische Felder, Elektrizitätslehre, Optik, Quantenoptik, Laser, Relativitätstheorie |
| -- | Quantenoptik, Laser- und Masertheorie, Quantenelektronik, Teilchenoptik, Relativitätstheorie |
| -- | Teilchenoptik, Ionenstrahloptik |
| -- | Teilchenoptik, Elektronenmikroskopie |
| -- | Sekundärelektronen-Rasterelektronenmikroskopie einschließlich Elektronenstrahlmikroanalyse |
| -- | Sekundärelektronen-Rasterelektronenmikroskopie einschließlich Elektronenstrahlmikroanalyse insgesamt, Allgemeines |
| -- | (DE-627)1271513714 |
| -- | (DE-625)rvk/159500: |
| -- | (DE-576)201513714 |
| 942 ## - Zusätzliche Felder (Koha) | |
| Koha-Medientyp | Saetze ohne Exemplar |
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