Max Planck Institute for Chemical Physics of Solids - Library Catalog

Sample preparation handbook for transmission electron microscopy (Record no. 6515)

MARC details
000 -Satzkennung
Kontrollfeld mit fester Länge 01949cam a2200433 cc4500
001 - Kontrollnummer
Kontrollfeld 1399778935
003 - Kontrollnummer Identifier
Kontrollfeld DE-627
005 - Datum und Zeit der letzten Transaktion
Kontrollfeld 20250624174356.0
007 - Feld mit fester Länge zur physischen Beschreibung - Allgemeine Information
Kontrollfeld mit fester Länge tu
008 - Feld mit fester Länge zur physischen Beschreibung - Allgemeine Angaben
Kontrollfeld mit fester Länge 100908s2010 xx ||||| 00| ||ger c
020 ## - Internationale Standardbuchnummer
Internationale Standardbuchnummer 9781441959744
-- 978-1-4419-5974-4
020 ## - Internationale Standardbuchnummer
Internationale Standardbuchnummer 9781489998859
-- 978-1-4899-9885-9
035 ## - Systemkontrollnummer
System-Kontrollnummer (DE-D210)CP000006980
035 ## - Systemkontrollnummer
System-Kontrollnummer (DE-576)329778935
035 ## - Systemkontrollnummer
System-Kontrollnummer (DE-627)1399778935
035 ## - Systemkontrollnummer
System-Kontrollnummer (DE-599)BSZ329778935
035 ## - Systemkontrollnummer
System-Kontrollnummer (OCoLC)699562436
040 ## - Katalogisierungsquelle
Original-Katalogisierungsstelle DE-627
Katalogisierungssprache ger
Übertragungsstelle DE-627
Beschreibungsfestlegungen rakwb
041 ## - Sprachcode
Sprachcode des Textes/der Tonspur oder des separaten Titels ger
072 #7 - Code der Sacherschließungskategorie
Code der Sacherschließungskategorie TGMT
Quelle bicssc
072 #7 - Code der Sacherschließungskategorie
Code der Sacherschließungskategorie TEC021000
Quelle bisacsh
076 b# -
-- od
082 0# - Notation nach der Dewey Decimal Classification
Notation 620.11
Zuweisende Stelle SEPA
084 ## - Andere Notation
Notation UH 6200
Quelle der Nummer rvk
IDN des Normdatensatzes oder Standardnummer (DE-625)rvk/145743:
090 ## - LOCALLY ASSIGNED LC-TYPE CALL NUMBER (OCLC); LOCAL CALL NUMBER (RLIN)
Notation (OCLC) (R) ; Notation, CALL (RLIN) (NR) a
245 00 - Titel
Titel Sample preparation handbook for transmission electron microscopy
Zählung des Teils/der Abteilung eines Werkes [2]
Titel eines Teils/einer Abteilung eines Werkes Techniques
Verfasserangabe etc. Jeanne Ayache ...
264 #1 - Produktion, Veröffentlichung, Distribution, Herstellung und Urheberrechtsvermerk
Herstellungs-, Veröffentlichungs- Vertriebs-, Erzeugungsort New York, NY [u.a.]
Produzent, Herausgeber, Distributor, Hersteller Springer [u.a.]
Datum der Herstellung, der Veröffentlichung, des Vertriebs oder des Urheberschutzvermerks 2010
300 ## - Physische Beschreibung
Umfang XXV, 338 S.
Weitere äußerliche Details zahlr. Ill., graph. Darst.
336 ## - Inhaltstyp
Inhaltstypterm Text
Inhaltstypcode txt
Quelle rdacontent
337 ## - Medientyp
Bezeichnung des Medientyps ohne Hilfsmittel zu benutzen
Medientypcode n
Quelle rdamedia
338 ## - Datenträgertyp
Datenträgertypbezeichnung Band
Datenträgertypcode nc
Quelle rdacarrier
951 ## - EQUIVALENCE OR CROSS-REFERENCE--GEOGRAPHIC NAME/AREA NAME [OBSOLETE] [CAN/MARC only]
Geografischer Name MV
773 18 - Übergeordnete Einheit
Datensatzkontrollnummer (DE-627)139952111X
-- (DE-576)32952111X
Verknüpfungsangaben [2]
Zählung und erste Seite [2]
Kontrollunterfeld nnam
776 1# - Andere physische Form
Internationale Standardbuchnummer 9781441959751
776 08 - Andere physische Form
Beziehungsinformationen Erscheint auch als
Hinweis Online-Ausgabe
Haupteintragung Ayache, Jeanne
Titel Sample Preparation Handbook for Transmission Electron Microscopy
Ort, Verlag und Erscheinungsjahr New York, NY : Springer New York, 2010
Physische Beschreibung Online-Ressource (XXV, 338p, digital)
Datensatzkontrollnummer (DE-627)1649910886
-- (DE-576)327003405
Internationale Standardbuchnummer 9781441959751
935 ## -
-- sf
936 rv - OCLC/CONSER MISCELLANEOUS DATA (OCLC); PIECE USED FOR CATALOGING (pre-AACR2) (RLIN)
OCLC control number(s) of parallel record(s) (OCLC); Piece used for cataloging, PUC (RLIN) UH 6200
-- Teilchenoptik und Elektronenmikroskopie allgemein
-- Physik
-- Klassische Felder, Elektrizitätslehre, Optik, Quantenoptik, Laser, Relativitätstheorie
-- Quantenoptik, Laser- und Masertheorie, Quantenelektronik, Teilchenoptik, Relativitätstheorie
-- Teilchenoptik, Ionenstrahloptik
-- Teilchenoptik, Elektronenmikroskopie
-- Teilchenoptik und Elektronenmikroskopie allgemein
-- (DE-627)1271568454
-- (DE-625)rvk/145743:
-- (DE-576)201568454
942 ## - Zusätzliche Felder (Koha)
Koha-Medientyp Buch
Holdings
Ausgeschieden Status Verloren-Status Beschädigung Nicht ausleihbar Heimatbibliothek Aktuelle Bibliothek Zugangsdatum Inventarnummer Anzahl Ausleihen Signatur Barcode Letzte Aktivität Preis gültig ab Koha-Medientyp
        MPI CPfS MPI CPfS 2010-11-04 10 A 182 01 2 UH 6300 SAMP -2 10005866 2025-06-23 2025-06-23 Buch

Imprint

Data Protection Advice

Powered by Koha