Max Planck Institute for Chemical Physics of Solids - Library Catalog

Electron backscatter diffraction in materials science (Record no. 6041)

MARC details
000 -Satzkennung
Kontrollfeld mit fester Länge 03770cam a2200793 c 4500
001 - Kontrollnummer
Kontrollfeld 577660160
003 - Kontrollnummer Identifier
Kontrollfeld DE-627
005 - Datum und Zeit der letzten Transaktion
Kontrollfeld 20250624174257.0
007 - Feld mit fester Länge zur physischen Beschreibung - Allgemeine Information
Kontrollfeld mit fester Länge tu
008 - Feld mit fester Länge zur physischen Beschreibung - Allgemeine Angaben
Kontrollfeld mit fester Länge 080911s2009 xxu||||| 00| ||eng c
010 ## - Kontrollnummer der Library of Congress
LC-Kontrollnummer 2009920955
015 ## - Nummer der Nationalbibliografie
Nummer der Nationalbibliografie 08,N38,0464
Quelle dnb
015 ## - Nummer der Nationalbibliografie
Nummer der Nationalbibliografie 08,N38,0464
Quelle dnb
016 7# - Kontrollnummer der nationalbibliografischen Agentur
Datensatzkontrollnummer 990247147
Quelle DE-101
020 ## - Internationale Standardbuchnummer
Internationale Standardbuchnummer 0387881352
Bezugsbedingungen Gb. : ca. EUR 139.26 (freier Pr.), ca. sfr 227.00 (freier Pr.)
-- 0-387-88135-2
020 ## - Internationale Standardbuchnummer
Internationale Standardbuchnummer 9780387881355
Bezugsbedingungen : Gb. : ca. EUR 139.26 (freier Pr.), ca. sfr 227.00 (freier Pr.)
-- 978-0-387-88135-5
024 3# - Anderer Standardidentifier
Standardnummer oder Code 9780387881355
024 8# - Anderer Standardidentifier
Standardnummer oder Code 12119400
Nähere Angaben Best.-Nr.
028 52 - Verlegernummer
Verlegernummer 12119400
035 ## - Systemkontrollnummer
System-Kontrollnummer (DE-D210)CP000006452
035 ## - Systemkontrollnummer
System-Kontrollnummer (DE-576)302803726
035 ## - Systemkontrollnummer
System-Kontrollnummer (DE-627)577660160
035 ## - Systemkontrollnummer
System-Kontrollnummer (DE-599)DNB990247147
035 ## - Systemkontrollnummer
System-Kontrollnummer (OCoLC)308158147
035 ## - Systemkontrollnummer
System-Kontrollnummer (OCoLC)698783294
040 ## - Katalogisierungsquelle
Original-Katalogisierungsstelle DE-627
Katalogisierungssprache ger
Übertragungsstelle DE-627
Beschreibungsfestlegungen rakwb
041 ## - Sprachcode
Sprachcode des Textes/der Tonspur oder des separaten Titels eng
044 ## - Ländercode der veröffentlichenden/herstellenden Stelle
ISO-Ländercode XD-US
-- XA-DE-BE
050 #0 - Signatur der Library of Congress
Notation TA417.23
072 #7 - Code der Sacherschließungskategorie
Code der Sacherschließungskategorie TGM
Quelle bicssc
072 #7 - Code der Sacherschließungskategorie
Code der Sacherschließungskategorie TEC021000
Quelle bisacsh
082 0# - Notation nach der Dewey Decimal Classification
Notation 620.11
Zuweisende Stelle OCLC
082 04 - Notation nach der Dewey Decimal Classification
Notation 620
084 ## - Andere Notation
Notation UQ 5500
Quelle der Nummer rvk
IDN des Normdatensatzes oder Standardnummer (DE-625)rvk/146526:
084 ## - Andere Notation
Notation ZM 3850
Zuweisende Stelle BVB
Quelle der Nummer rvk
IDN des Normdatensatzes oder Standardnummer (DE-625)rvk/157030:
084 ## - Andere Notation
Notation 51.30
Quelle der Nummer bkl
090 ## - LOCALLY ASSIGNED LC-TYPE CALL NUMBER (OCLC); LOCAL CALL NUMBER (RLIN)
Notation (OCLC) (R) ; Notation, CALL (RLIN) (NR) a
245 00 - Titel
Titel Electron backscatter diffraction in materials science
Verfasserangabe etc. Adam J. Schwartz ... ed.
250 ## - Ausgabebezeichnung
Ausgabebezeichnung 2. ed.
264 #1 - Produktion, Veröffentlichung, Distribution, Herstellung und Urheberrechtsvermerk
Herstellungs-, Veröffentlichungs- Vertriebs-, Erzeugungsort New York, NY
Produzent, Herausgeber, Distributor, Hersteller Springer
Datum der Herstellung, der Veröffentlichung, des Vertriebs oder des Urheberschutzvermerks 2009
300 ## - Physische Beschreibung
Umfang XXII, 403 S.
Weitere äußerliche Details zahlr. Ill., graph. Darst., Kt.
Dimensionen 269 mm x 196 mm
336 ## - Inhaltstyp
Inhaltstypterm Text
Inhaltstypcode txt
Quelle rdacontent
337 ## - Medientyp
Bezeichnung des Medientyps ohne Hilfsmittel zu benutzen
Medientypcode n
Quelle rdamedia
338 ## - Datenträgertyp
Datenträgertypbezeichnung Band
Datenträgertypcode nc
Quelle rdacarrier
500 ## - Allgemeine Fußnote
Allgemeine Fußnote Literaturangaben
583 1# - Fußnote zum Bearbeitungsvermerk
Aktion Archivierung prüfen
Zeit/Datum der Bearbeitung 20240324
Autorisierende Stelle DE-4165
OPAC-Notiz 3
Quelle der Ansetzung oder des Terms pdager
650 #0 - Nebeneintragung unter einem Schlagwort - Sachschlagwort
Sachschlagwort oder geografischer Name als Eintragungselement Materials
Allgemeine Unterteilung Microscopy
650 #0 - Nebeneintragung unter einem Schlagwort - Sachschlagwort
Sachschlagwort oder geografischer Name als Eintragungselement Scanning electron microscopy
650 #0 - Nebeneintragung unter einem Schlagwort - Sachschlagwort
Sachschlagwort oder geografischer Name als Eintragungselement Crystallography
689 00 -
-- s
-- (DE-588)4151903-6
-- (DE-627)105542172
-- (DE-576)209791292
-- Elektronenstreuung
-- gnd
689 01 -
-- s
-- (DE-588)4178653-1
-- (DE-627)105339830
-- (DE-576)209985860
-- Rückstreuung
-- gnd
689 02 -
-- s
-- (DE-588)4033217-2
-- (DE-627)106258443
-- (DE-576)209000651
-- Kristallographie
-- gnd
689 03 -
-- s
-- (DE-588)4124024-8
-- (DE-627)105750778
-- (DE-576)209564660
-- Rasterelektronenmikroskop
-- gnd
689 04 -
-- s
-- (DE-588)4079184-1
-- (DE-627)106075349
-- (DE-576)209211288
-- Werkstoffkunde
-- gnd
689 0# -
-- (DE-627)
951 ## - EQUIVALENCE OR CROSS-REFERENCE--GEOGRAPHIC NAME/AREA NAME [OBSOLETE] [CAN/MARC only]
Geografischer Name BO
700 1# - Nebeneintragung - Personenname
Personenname Schwartz, Adam J.
Funktionsbezeichnung Hrsg.
Beziehung edt
776 1# - Andere physische Form
Internationale Standardbuchnummer 9780387881362
Nähere Angaben ebk
776 08 - Andere physische Form
Beziehungsinformationen Erscheint auch als
Hinweis Online-Ausgabe
Haupteintragung Schwartz, Adam J.
Titel Electron Backscatter Diffraction in Materials Science
Ort, Verlag und Erscheinungsjahr Boston, MA : Springer Science+Business Media, LLC, 2009
Physische Beschreibung Online-Ressource (XXII, 406p. 320 illus., 50 illus. in color, digital)
Datensatzkontrollnummer (DE-627)1649893957
-- (DE-576)327000163
Internationale Standardbuchnummer 9780387881362
776 08 - Andere physische Form
Beziehungsinformationen Erscheint auch als
Hinweis Online-Ausgabe
Titel Electron backscatter diffraction in materials science
Auflage 2. ed.
Ort, Verlag und Erscheinungsjahr New York, NY : Springer, 2009
Datensatzkontrollnummer (DE-627)1653567147
-- (DE-576)402176421
Internationale Standardbuchnummer 9780387881355
856 42 - Elektronische Adresse und Zugriff
Uniform Resource Identifier <a href="https://swbplus.bsz-bw.de/bsz302803726inh.htm">https://swbplus.bsz-bw.de/bsz302803726inh.htm</a>
Kontaktstelle für Hilfe beim Zugriff B:DE-576;springer
Elektronisches Format application/pdf
Zugriffszeiten 20090623093600
Beilagen Inhaltsverzeichnis
856 42 - Elektronische Adresse und Zugriff
Uniform Resource Identifier <a href="https://swbplus.bsz-bw.de/bsz302803726kap.htm">https://swbplus.bsz-bw.de/bsz302803726kap.htm</a>
Kontaktstelle für Hilfe beim Zugriff B:DE-576;springer
Elektronisches Format application/pdf
Zugriffszeiten 20090623101948
Beilagen Kapitel 2
935 ## -
-- sf
935 ## -
-- Blocktest
936 rv - OCLC/CONSER MISCELLANEOUS DATA (OCLC); PIECE USED FOR CATALOGING (pre-AACR2) (RLIN)
OCLC control number(s) of parallel record(s) (OCLC); Piece used for cataloging, PUC (RLIN) UQ 5500
-- Elektronenbeugungsmethoden
-- Physik
-- Kristallographie
-- Kristallstrukturbestimmung
-- Elektronenbeugungsmethoden
-- (DE-627)127159403X
-- (DE-625)rvk/146526:
-- (DE-576)20159403X
936 rv - OCLC/CONSER MISCELLANEOUS DATA (OCLC); PIECE USED FOR CATALOGING (pre-AACR2) (RLIN)
OCLC control number(s) of parallel record(s) (OCLC); Piece used for cataloging, PUC (RLIN) ZM 3850
-- Sonstige
-- Technik
-- Werkstoffwissenschaften und Fertigungstechnik
-- Werkstoffwissenschaft
-- Werkstoffprüfung allgemein
-- Sonstige
-- (DE-627)1271732971
-- (DE-625)rvk/157030:
-- (DE-576)201732971
936 bk - OCLC/CONSER MISCELLANEOUS DATA (OCLC); PIECE USED FOR CATALOGING (pre-AACR2) (RLIN)
OCLC control number(s) of parallel record(s) (OCLC); Piece used for cataloging, PUC (RLIN) 51.30
-- Werkstoffprüfung
-- Werkstoffuntersuchung
-- (DE-627)106414054
942 ## - Zusätzliche Felder (Koha)
Koha-Medientyp Buch
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        MPI CPfS MPI CPfS 2009-08-12 09 A 115 01 5 UQ 5500 ELEC 10005565 2025-06-23 2025-06-23 Buch

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