MARC details
000 -Satzkennung |
Kontrollfeld mit fester Länge |
04781cam a2200913 c 4500 |
001 - Kontrollnummer |
Kontrollfeld |
1611184452 |
003 - Kontrollnummer Identifier |
Kontrollfeld |
DE-627 |
005 - Datum und Zeit der letzten Transaktion |
Kontrollfeld |
20250624174406.0 |
007 - Feld mit fester Länge zur physischen Beschreibung - Allgemeine Information |
Kontrollfeld mit fester Länge |
tu |
008 - Feld mit fester Länge zur physischen Beschreibung - Allgemeine Angaben |
Kontrollfeld mit fester Länge |
071016s2008 xxk||||| 00| ||eng c |
010 ## - Kontrollnummer der Library of Congress |
LC-Kontrollnummer |
2007041704 |
020 ## - Internationale Standardbuchnummer |
Internationale Standardbuchnummer |
9780470027844 |
Bezugsbedingungen |
cloth |
-- |
978-0-470-02784-4 |
020 ## - Internationale Standardbuchnummer |
Internationale Standardbuchnummer |
9780470027851 |
Bezugsbedingungen |
pbk. |
-- |
978-0-470-02785-1 |
020 ## - Internationale Standardbuchnummer |
Internationale Standardbuchnummer |
0470027843 |
-- |
0-470-02784-3 |
020 ## - Internationale Standardbuchnummer |
Internationale Standardbuchnummer |
0470027851 |
-- |
0-470-02785-1 |
035 ## - Systemkontrollnummer |
System-Kontrollnummer |
(DE-D210)CP000006205 |
035 ## - Systemkontrollnummer |
System-Kontrollnummer |
(DE-576)277156483 |
035 ## - Systemkontrollnummer |
System-Kontrollnummer |
(DE-627)1611184452 |
035 ## - Systemkontrollnummer |
System-Kontrollnummer |
(DE-599)BSZ277156483 |
035 ## - Systemkontrollnummer |
System-Kontrollnummer |
(OCoLC)637015614 |
035 ## - Systemkontrollnummer |
System-Kontrollnummer |
(OCoLC)154798426 |
040 ## - Katalogisierungsquelle |
Original-Katalogisierungsstelle |
DE-627 |
Katalogisierungssprache |
ger |
Übertragungsstelle |
DE-627 |
Beschreibungsfestlegungen |
rda |
041 ## - Sprachcode |
Sprachcode des Textes/der Tonspur oder des separaten Titels |
eng |
044 ## - Ländercode der veröffentlichenden/herstellenden Stelle |
ISO-Ländercode |
XA-GB |
-- |
XD-US |
-- |
XA-DE |
050 #0 - Signatur der Library of Congress |
Notation |
TA417.23 |
072 #7 - Code der Sacherschließungskategorie |
Code der Sacherschließungskategorie |
SCI |
Quelle |
bisacsh |
082 0# - Notation nach der Dewey Decimal Classification |
Notation |
620.11299 |
082 0# - Notation nach der Dewey Decimal Classification |
Notation |
620.1/1299 |
Zuweisende Stelle |
OCLC |
084 ## - Andere Notation |
Notation |
VE 9670 |
Quelle der Nummer |
rvk |
IDN des Normdatensatzes oder Standardnummer |
(DE-625)rvk/147161:253 |
084 ## - Andere Notation |
Notation |
UQ 8000 |
Quelle der Nummer |
rvk |
IDN des Normdatensatzes oder Standardnummer |
(DE-625)rvk/146584: |
084 ## - Andere Notation |
Notation |
UQ 5000 |
Quelle der Nummer |
rvk |
IDN des Normdatensatzes oder Standardnummer |
(DE-625)rvk/146520: |
084 ## - Andere Notation |
Notation |
ZM 3700 |
Quelle der Nummer |
rvk |
IDN des Normdatensatzes oder Standardnummer |
(DE-625)rvk/157028: |
084 ## - Andere Notation |
Notation |
51.30 |
Quelle der Nummer |
bkl |
084 ## - Andere Notation |
Notation |
33.18 |
Quelle der Nummer |
bkl |
084 ## - Andere Notation |
Notation |
50.94 |
Quelle der Nummer |
bkl |
100 1# - Haupteintragung - Personenname |
Personenname |
Brandon, David G. |
Funktionsbezeichnung |
VerfasserIn |
IDN des Normdatensatzes oder Standardnummer |
(DE-627)1230404295 |
-- |
(DE-576)160404290 |
Beziehung |
aut |
Koha-Normdatenidentnummer |
7689 |
245 10 - Titel |
Titel |
Microstructural characterization of materials |
Verfasserangabe etc. |
David Brandon and Wayne D. Kaplan, Technion, Israel Institute of Technology, Israel |
250 ## - Ausgabebezeichnung |
Ausgabebezeichnung |
2nd edition |
264 #1 - Produktion, Veröffentlichung, Distribution, Herstellung und Urheberrechtsvermerk |
Herstellungs-, Veröffentlichungs- Vertriebs-, Erzeugungsort |
Chichester |
Produzent, Herausgeber, Distributor, Hersteller |
John Wiley & Sons, Ltd |
Datum der Herstellung, der Veröffentlichung, des Vertriebs oder des Urheberschutzvermerks |
[2008] |
264 #4 - Produktion, Veröffentlichung, Distribution, Herstellung und Urheberrechtsvermerk |
Datum der Herstellung, der Veröffentlichung, des Vertriebs oder des Urheberschutzvermerks |
© 2008 |
300 ## - Physische Beschreibung |
Umfang |
xiv, 536 Seiten |
Weitere äußerliche Details |
Illustrationen |
336 ## - Inhaltstyp |
Inhaltstypterm |
Text |
Inhaltstypcode |
txt |
Quelle |
rdacontent |
337 ## - Medientyp |
Bezeichnung des Medientyps |
ohne Hilfsmittel zu benutzen |
Medientypcode |
n |
Quelle |
rdamedia |
338 ## - Datenträgertyp |
Datenträgertypbezeichnung |
Band |
Datenträgertypcode |
nc |
Quelle |
rdacarrier |
490 0# - Gesamttitelangabe |
Gesamttitelangabe |
Quantitative software engineering series |
500 ## - Allgemeine Fußnote |
Allgemeine Fußnote |
Literaturangaben |
583 1# - Fußnote zum Bearbeitungsvermerk |
Aktion |
Archivierung prüfen |
Zeit/Datum der Bearbeitung |
20200919 |
Autorisierende Stelle |
DE-640 |
OPAC-Notiz |
3 |
Quelle der Ansetzung oder des Terms |
pdager |
583 1# - Fußnote zum Bearbeitungsvermerk |
Aktion |
Archivierung prüfen |
Zeit/Datum der Bearbeitung |
20240324 |
Autorisierende Stelle |
DE-4165 |
OPAC-Notiz |
3 |
Quelle der Ansetzung oder des Terms |
pdager |
650 #0 - Nebeneintragung unter einem Schlagwort - Sachschlagwort |
Sachschlagwort oder geografischer Name als Eintragungselement |
Materials |
Allgemeine Unterteilung |
Microscopy |
650 #0 - Nebeneintragung unter einem Schlagwort - Sachschlagwort |
Sachschlagwort oder geografischer Name als Eintragungselement |
Microstructure |
689 00 - |
-- |
s |
-- |
(DE-588)4720368-7 |
-- |
(DE-627)346209803 |
-- |
(DE-576)215727401 |
-- |
Materialcharakterisierung |
-- |
gnd |
689 01 - |
-- |
s |
-- |
(DE-588)4065579-9 |
-- |
(DE-627)106118315 |
-- |
(DE-576)209159383 |
-- |
Werkstoff |
-- |
gnd |
689 02 - |
-- |
s |
-- |
(DE-588)4131028-7 |
-- |
(DE-627)104202998 |
-- |
(DE-576)209624019 |
-- |
Mikrostruktur |
-- |
gnd |
689 03 - |
-- |
s |
-- |
(DE-588)4178306-2 |
-- |
(DE-627)105342483 |
-- |
(DE-576)209983493 |
-- |
Röntgenbeugung |
-- |
gnd |
689 04 - |
-- |
s |
-- |
(DE-588)4039238-7 |
-- |
(DE-627)106228692 |
-- |
(DE-576)20903419X |
-- |
Mikroskopie |
-- |
gnd |
689 05 - |
-- |
s |
-- |
(DE-588)4014327-2 |
-- |
(DE-627)106340549 |
-- |
(DE-576)208907351 |
-- |
Elektronenmikroskopie |
-- |
gnd |
689 06 - |
-- |
s |
-- |
(DE-588)4009840-0 |
-- |
(DE-627)104409789 |
-- |
(DE-576)208884912 |
-- |
Chemische Analyse |
-- |
gnd |
689 0# - |
-- |
(DE-627) |
689 10 - |
-- |
s |
-- |
(DE-588)4065579-9 |
-- |
(DE-627)106118315 |
-- |
(DE-576)209159383 |
-- |
Werkstoff |
-- |
gnd |
689 11 - |
-- |
s |
-- |
(DE-588)4131028-7 |
-- |
(DE-627)104202998 |
-- |
(DE-576)209624019 |
-- |
Mikrostruktur |
-- |
gnd |
689 12 - |
-- |
s |
-- |
(DE-588)4037934-6 |
-- |
(DE-627)106234846 |
-- |
(DE-576)209027282 |
-- |
Werkstoffprüfung |
-- |
gnd |
689 1# - |
-- |
(DE-627) |
951 ## - EQUIVALENCE OR CROSS-REFERENCE--GEOGRAPHIC NAME/AREA NAME [OBSOLETE] [CAN/MARC only] |
Geografischer Name |
BO |
700 1# - Nebeneintragung - Personenname |
Personenname |
Kaplan, Wayne D. |
Funktionsbezeichnung |
VerfasserIn |
Beziehung |
aut |
776 08 - Andere physische Form |
Beziehungsinformationen |
Erscheint auch als |
Hinweis |
Online-Ausgabe |
Haupteintragung |
Brandon, David G. |
Titel |
Microstructural characterization of materials |
Auflage |
2. ed. |
Ort, Verlag und Erscheinungsjahr |
Chichester [u.a.] : Wiley, 2008 |
Physische Beschreibung |
XIV, 536 S. |
Datensatzkontrollnummer |
(DE-627)1647786703 |
-- |
(DE-576)305626574 |
Internationale Standardbuchnummer |
9780470027844 |
856 42 - Elektronische Adresse und Zugriff |
Uniform Resource Identifier |
<a href="http://www.gbv.de/dms/ilmenau/toc/546682111.PDF">http://www.gbv.de/dms/ilmenau/toc/546682111.PDF</a> |
Kontaktstelle für Hilfe beim Zugriff |
V:DE-601 |
-- |
B:DE-ilm1 |
Elektronisches Format |
pdf/application |
Verknüpfungstext |
Inhaltsverzeichnis |
Beilagen |
Inhaltsverzeichnis |
856 42 - Elektronische Adresse und Zugriff |
Uniform Resource Identifier |
<a href="http://www.loc.gov/catdir/enhancements/fy0827/2007041704-d.html">http://www.loc.gov/catdir/enhancements/fy0827/2007041704-d.html</a> |
Verknüpfungstext |
Publisher description |
856 42 - Elektronische Adresse und Zugriff |
Uniform Resource Identifier |
<a href="http://www.loc.gov/catdir/enhancements/fy0827/2007041704-t.html">http://www.loc.gov/catdir/enhancements/fy0827/2007041704-t.html</a> |
Verknüpfungstext |
Table of contents only |
889 ## - |
-- |
(DE-627)546682111 |
935 ## - |
-- |
mdedup |
936 rv - OCLC/CONSER MISCELLANEOUS DATA (OCLC); PIECE USED FOR CATALOGING (pre-AACR2) (RLIN) |
OCLC control number(s) of parallel record(s) (OCLC); Piece used for cataloging, PUC (RLIN) |
VE 9670 |
-- |
Allgemeines |
-- |
Chemie und Pharmazie |
-- |
Physikalische und theoretische Chemie |
-- |
Physikalische und Theoretische Chemie allgemein |
-- |
Werkstoffkunde (Materialwissenschaft); Glaschemie s.a. VN 6020 Anorganische Werkstoffe |
-- |
Allgemeines |
-- |
(DE-627)1271536382 |
-- |
(DE-625)rvk/147161:253 |
-- |
(DE-576)201536382 |
936 rv - OCLC/CONSER MISCELLANEOUS DATA (OCLC); PIECE USED FOR CATALOGING (pre-AACR2) (RLIN) |
OCLC control number(s) of parallel record(s) (OCLC); Piece used for cataloging, PUC (RLIN) |
UQ 8000 |
-- |
Allgemeine Lehrbücher |
-- |
Physik |
-- |
Materialwissenschaft |
-- |
Allgemeine Lehrbücher |
-- |
(DE-627)1271479095 |
-- |
(DE-625)rvk/146584: |
-- |
(DE-576)201479095 |
936 rv - OCLC/CONSER MISCELLANEOUS DATA (OCLC); PIECE USED FOR CATALOGING (pre-AACR2) (RLIN) |
OCLC control number(s) of parallel record(s) (OCLC); Piece used for cataloging, PUC (RLIN) |
UQ 5000 |
-- |
Allgemeines |
-- |
Physik |
-- |
Kristallographie |
-- |
Kristallstrukturbestimmung |
-- |
Allgemeines |
-- |
(DE-627)1271486938 |
-- |
(DE-625)rvk/146520: |
-- |
(DE-576)201486938 |
936 rv - OCLC/CONSER MISCELLANEOUS DATA (OCLC); PIECE USED FOR CATALOGING (pre-AACR2) (RLIN) |
OCLC control number(s) of parallel record(s) (OCLC); Piece used for cataloging, PUC (RLIN) |
ZM 3700 |
-- |
zerstörungsfreie |
-- |
Technik |
-- |
Werkstoffwissenschaften und Fertigungstechnik |
-- |
Werkstoffwissenschaft |
-- |
Werkstoffprüfung allgemein |
-- |
zerstörungsfreie |
-- |
(DE-627)1271516969 |
-- |
(DE-625)rvk/157028: |
-- |
(DE-576)201516969 |
936 bk - OCLC/CONSER MISCELLANEOUS DATA (OCLC); PIECE USED FOR CATALOGING (pre-AACR2) (RLIN) |
OCLC control number(s) of parallel record(s) (OCLC); Piece used for cataloging, PUC (RLIN) |
51.30 |
-- |
Werkstoffprüfung |
-- |
Werkstoffuntersuchung |
-- |
(DE-627)106414054 |
936 bk - OCLC/CONSER MISCELLANEOUS DATA (OCLC); PIECE USED FOR CATALOGING (pre-AACR2) (RLIN) |
OCLC control number(s) of parallel record(s) (OCLC); Piece used for cataloging, PUC (RLIN) |
33.18 |
-- |
Optik |
-- |
(DE-627)106419102 |
936 bk - OCLC/CONSER MISCELLANEOUS DATA (OCLC); PIECE USED FOR CATALOGING (pre-AACR2) (RLIN) |
OCLC control number(s) of parallel record(s) (OCLC); Piece used for cataloging, PUC (RLIN) |
50.94 |
-- |
Mikrosystemtechnik |
-- |
Nanotechnologie |
-- |
(DE-627)181570645 |
942 ## - Zusätzliche Felder (Koha) |
Koha-Medientyp |
Buch |