Max Planck Institute for Chemical Physics of Solids - Library Catalog

Microstructural characterization of materials (Record no. 5806)

MARC details
000 -Satzkennung
Kontrollfeld mit fester Länge 04781cam a2200913 c 4500
001 - Kontrollnummer
Kontrollfeld 1611184452
003 - Kontrollnummer Identifier
Kontrollfeld DE-627
005 - Datum und Zeit der letzten Transaktion
Kontrollfeld 20250624174406.0
007 - Feld mit fester Länge zur physischen Beschreibung - Allgemeine Information
Kontrollfeld mit fester Länge tu
008 - Feld mit fester Länge zur physischen Beschreibung - Allgemeine Angaben
Kontrollfeld mit fester Länge 071016s2008 xxk||||| 00| ||eng c
010 ## - Kontrollnummer der Library of Congress
LC-Kontrollnummer 2007041704
020 ## - Internationale Standardbuchnummer
Internationale Standardbuchnummer 9780470027844
Bezugsbedingungen cloth
-- 978-0-470-02784-4
020 ## - Internationale Standardbuchnummer
Internationale Standardbuchnummer 9780470027851
Bezugsbedingungen pbk.
-- 978-0-470-02785-1
020 ## - Internationale Standardbuchnummer
Internationale Standardbuchnummer 0470027843
-- 0-470-02784-3
020 ## - Internationale Standardbuchnummer
Internationale Standardbuchnummer 0470027851
-- 0-470-02785-1
035 ## - Systemkontrollnummer
System-Kontrollnummer (DE-D210)CP000006205
035 ## - Systemkontrollnummer
System-Kontrollnummer (DE-576)277156483
035 ## - Systemkontrollnummer
System-Kontrollnummer (DE-627)1611184452
035 ## - Systemkontrollnummer
System-Kontrollnummer (DE-599)BSZ277156483
035 ## - Systemkontrollnummer
System-Kontrollnummer (OCoLC)637015614
035 ## - Systemkontrollnummer
System-Kontrollnummer (OCoLC)154798426
040 ## - Katalogisierungsquelle
Original-Katalogisierungsstelle DE-627
Katalogisierungssprache ger
Übertragungsstelle DE-627
Beschreibungsfestlegungen rda
041 ## - Sprachcode
Sprachcode des Textes/der Tonspur oder des separaten Titels eng
044 ## - Ländercode der veröffentlichenden/herstellenden Stelle
ISO-Ländercode XA-GB
-- XD-US
-- XA-DE
050 #0 - Signatur der Library of Congress
Notation TA417.23
072 #7 - Code der Sacherschließungskategorie
Code der Sacherschließungskategorie SCI
Quelle bisacsh
082 0# - Notation nach der Dewey Decimal Classification
Notation 620.11299
082 0# - Notation nach der Dewey Decimal Classification
Notation 620.1/1299
Zuweisende Stelle OCLC
084 ## - Andere Notation
Notation VE 9670
Quelle der Nummer rvk
IDN des Normdatensatzes oder Standardnummer (DE-625)rvk/147161:253
084 ## - Andere Notation
Notation UQ 8000
Quelle der Nummer rvk
IDN des Normdatensatzes oder Standardnummer (DE-625)rvk/146584:
084 ## - Andere Notation
Notation UQ 5000
Quelle der Nummer rvk
IDN des Normdatensatzes oder Standardnummer (DE-625)rvk/146520:
084 ## - Andere Notation
Notation ZM 3700
Quelle der Nummer rvk
IDN des Normdatensatzes oder Standardnummer (DE-625)rvk/157028:
084 ## - Andere Notation
Notation 51.30
Quelle der Nummer bkl
084 ## - Andere Notation
Notation 33.18
Quelle der Nummer bkl
084 ## - Andere Notation
Notation 50.94
Quelle der Nummer bkl
100 1# - Haupteintragung - Personenname
Personenname Brandon, David G.
Funktionsbezeichnung VerfasserIn
IDN des Normdatensatzes oder Standardnummer (DE-627)1230404295
-- (DE-576)160404290
Beziehung aut
Koha-Normdatenidentnummer 7689
245 10 - Titel
Titel Microstructural characterization of materials
Verfasserangabe etc. David Brandon and Wayne D. Kaplan, Technion, Israel Institute of Technology, Israel
250 ## - Ausgabebezeichnung
Ausgabebezeichnung 2nd edition
264 #1 - Produktion, Veröffentlichung, Distribution, Herstellung und Urheberrechtsvermerk
Herstellungs-, Veröffentlichungs- Vertriebs-, Erzeugungsort Chichester
Produzent, Herausgeber, Distributor, Hersteller John Wiley & Sons, Ltd
Datum der Herstellung, der Veröffentlichung, des Vertriebs oder des Urheberschutzvermerks [2008]
264 #4 - Produktion, Veröffentlichung, Distribution, Herstellung und Urheberrechtsvermerk
Datum der Herstellung, der Veröffentlichung, des Vertriebs oder des Urheberschutzvermerks © 2008
300 ## - Physische Beschreibung
Umfang xiv, 536 Seiten
Weitere äußerliche Details Illustrationen
336 ## - Inhaltstyp
Inhaltstypterm Text
Inhaltstypcode txt
Quelle rdacontent
337 ## - Medientyp
Bezeichnung des Medientyps ohne Hilfsmittel zu benutzen
Medientypcode n
Quelle rdamedia
338 ## - Datenträgertyp
Datenträgertypbezeichnung Band
Datenträgertypcode nc
Quelle rdacarrier
490 0# - Gesamttitelangabe
Gesamttitelangabe Quantitative software engineering series
500 ## - Allgemeine Fußnote
Allgemeine Fußnote Literaturangaben
583 1# - Fußnote zum Bearbeitungsvermerk
Aktion Archivierung prüfen
Zeit/Datum der Bearbeitung 20200919
Autorisierende Stelle DE-640
OPAC-Notiz 3
Quelle der Ansetzung oder des Terms pdager
583 1# - Fußnote zum Bearbeitungsvermerk
Aktion Archivierung prüfen
Zeit/Datum der Bearbeitung 20240324
Autorisierende Stelle DE-4165
OPAC-Notiz 3
Quelle der Ansetzung oder des Terms pdager
650 #0 - Nebeneintragung unter einem Schlagwort - Sachschlagwort
Sachschlagwort oder geografischer Name als Eintragungselement Materials
Allgemeine Unterteilung Microscopy
650 #0 - Nebeneintragung unter einem Schlagwort - Sachschlagwort
Sachschlagwort oder geografischer Name als Eintragungselement Microstructure
689 00 -
-- s
-- (DE-588)4720368-7
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-- Materialcharakterisierung
-- gnd
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-- Mikroskopie
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-- Werkstoff
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-- Werkstoffprüfung
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689 1# -
-- (DE-627)
951 ## - EQUIVALENCE OR CROSS-REFERENCE--GEOGRAPHIC NAME/AREA NAME [OBSOLETE] [CAN/MARC only]
Geografischer Name BO
700 1# - Nebeneintragung - Personenname
Personenname Kaplan, Wayne D.
Funktionsbezeichnung VerfasserIn
Beziehung aut
776 08 - Andere physische Form
Beziehungsinformationen Erscheint auch als
Hinweis Online-Ausgabe
Haupteintragung Brandon, David G.
Titel Microstructural characterization of materials
Auflage 2. ed.
Ort, Verlag und Erscheinungsjahr Chichester [u.a.] : Wiley, 2008
Physische Beschreibung XIV, 536 S.
Datensatzkontrollnummer (DE-627)1647786703
-- (DE-576)305626574
Internationale Standardbuchnummer 9780470027844
856 42 - Elektronische Adresse und Zugriff
Uniform Resource Identifier <a href="http://www.gbv.de/dms/ilmenau/toc/546682111.PDF">http://www.gbv.de/dms/ilmenau/toc/546682111.PDF</a>
Kontaktstelle für Hilfe beim Zugriff V:DE-601
-- B:DE-ilm1
Elektronisches Format pdf/application
Verknüpfungstext Inhaltsverzeichnis
Beilagen Inhaltsverzeichnis
856 42 - Elektronische Adresse und Zugriff
Uniform Resource Identifier <a href="http://www.loc.gov/catdir/enhancements/fy0827/2007041704-d.html">http://www.loc.gov/catdir/enhancements/fy0827/2007041704-d.html</a>
Verknüpfungstext Publisher description
856 42 - Elektronische Adresse und Zugriff
Uniform Resource Identifier <a href="http://www.loc.gov/catdir/enhancements/fy0827/2007041704-t.html">http://www.loc.gov/catdir/enhancements/fy0827/2007041704-t.html</a>
Verknüpfungstext Table of contents only
889 ## -
-- (DE-627)546682111
935 ## -
-- mdedup
936 rv - OCLC/CONSER MISCELLANEOUS DATA (OCLC); PIECE USED FOR CATALOGING (pre-AACR2) (RLIN)
OCLC control number(s) of parallel record(s) (OCLC); Piece used for cataloging, PUC (RLIN) VE 9670
-- Allgemeines
-- Chemie und Pharmazie
-- Physikalische und theoretische Chemie
-- Physikalische und Theoretische Chemie allgemein
-- Werkstoffkunde (Materialwissenschaft); Glaschemie s.a. VN 6020 Anorganische Werkstoffe
-- Allgemeines
-- (DE-627)1271536382
-- (DE-625)rvk/147161:253
-- (DE-576)201536382
936 rv - OCLC/CONSER MISCELLANEOUS DATA (OCLC); PIECE USED FOR CATALOGING (pre-AACR2) (RLIN)
OCLC control number(s) of parallel record(s) (OCLC); Piece used for cataloging, PUC (RLIN) UQ 8000
-- Allgemeine Lehrbücher
-- Physik
-- Materialwissenschaft
-- Allgemeine Lehrbücher
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-- (DE-625)rvk/146584:
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936 rv - OCLC/CONSER MISCELLANEOUS DATA (OCLC); PIECE USED FOR CATALOGING (pre-AACR2) (RLIN)
OCLC control number(s) of parallel record(s) (OCLC); Piece used for cataloging, PUC (RLIN) UQ 5000
-- Allgemeines
-- Physik
-- Kristallographie
-- Kristallstrukturbestimmung
-- Allgemeines
-- (DE-627)1271486938
-- (DE-625)rvk/146520:
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936 rv - OCLC/CONSER MISCELLANEOUS DATA (OCLC); PIECE USED FOR CATALOGING (pre-AACR2) (RLIN)
OCLC control number(s) of parallel record(s) (OCLC); Piece used for cataloging, PUC (RLIN) ZM 3700
-- zerstörungsfreie
-- Technik
-- Werkstoffwissenschaften und Fertigungstechnik
-- Werkstoffwissenschaft
-- Werkstoffprüfung allgemein
-- zerstörungsfreie
-- (DE-627)1271516969
-- (DE-625)rvk/157028:
-- (DE-576)201516969
936 bk - OCLC/CONSER MISCELLANEOUS DATA (OCLC); PIECE USED FOR CATALOGING (pre-AACR2) (RLIN)
OCLC control number(s) of parallel record(s) (OCLC); Piece used for cataloging, PUC (RLIN) 51.30
-- Werkstoffprüfung
-- Werkstoffuntersuchung
-- (DE-627)106414054
936 bk - OCLC/CONSER MISCELLANEOUS DATA (OCLC); PIECE USED FOR CATALOGING (pre-AACR2) (RLIN)
OCLC control number(s) of parallel record(s) (OCLC); Piece used for cataloging, PUC (RLIN) 33.18
-- Optik
-- (DE-627)106419102
936 bk - OCLC/CONSER MISCELLANEOUS DATA (OCLC); PIECE USED FOR CATALOGING (pre-AACR2) (RLIN)
OCLC control number(s) of parallel record(s) (OCLC); Piece used for cataloging, PUC (RLIN) 50.94
-- Mikrosystemtechnik
-- Nanotechnologie
-- (DE-627)181570645
942 ## - Zusätzliche Felder (Koha)
Koha-Medientyp Buch
Holdings
Ausgeschieden Status Verloren-Status Beschädigung Nicht ausleihbar Heimatbibliothek Aktuelle Bibliothek Zugangsdatum Inventarnummer Anzahl Ausleihen Signatur Barcode Letzte Aktivität Preis gültig ab Koha-Medientyp
        MPI CPfS MPI CPfS 2008-06-06 08 A 090 01 3 UQ 8000 BRAN 10005154 2025-06-23 2025-06-23 Buch

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