Max Planck Institute for Chemical Physics of Solids - Library Catalog

Scanning microscopy for nanotechnology (Record no. 5561)

MARC details
000 -Satzkennung
Kontrollfeld mit fester Länge 05049cam a2200889 c 4500
001 - Kontrollnummer
Kontrollfeld 509408273
003 - Kontrollnummer Identifier
Kontrollfeld DE-627
005 - Datum und Zeit der letzten Transaktion
Kontrollfeld 20250628063354.0
007 - Feld mit fester Länge zur physischen Beschreibung - Allgemeine Information
Kontrollfeld mit fester Länge tu
008 - Feld mit fester Länge zur physischen Beschreibung - Allgemeine Angaben
Kontrollfeld mit fester Länge 060323s2007 xxu||||| 00| ||eng c
010 ## - Kontrollnummer der Library of Congress
LC-Kontrollnummer 2006925865
015 ## - Nummer der Nationalbibliografie
Nummer der Nationalbibliografie 06,N14,0584
Quelle dnb
016 7# - Kontrollnummer der nationalbibliografischen Agentur
Datensatzkontrollnummer 013558146
Quelle UK
016 7# - Kontrollnummer der nationalbibliografischen Agentur
Datensatzkontrollnummer 978881575
Quelle DE-101
020 ## - Internationale Standardbuchnummer
Internationale Standardbuchnummer 0387396209
Bezugsbedingungen e-book
-- 0-387-39620-9
020 ## - Internationale Standardbuchnummer
Internationale Standardbuchnummer 9780387396200
Bezugsbedingungen : e-book
-- 978-0-387-39620-0
020 ## - Internationale Standardbuchnummer
Internationale Standardbuchnummer 0387333258
Bezugsbedingungen Gb.
-- 0-387-33325-8
020 ## - Internationale Standardbuchnummer
Internationale Standardbuchnummer 9780387333250
Bezugsbedingungen : Gb.
-- 978-0-387-33325-0
024 3# - Anderer Standardidentifier
Standardnummer oder Code 9780387333250
024 8# - Anderer Standardidentifier
Standardnummer oder Code 0-387-39620-9
Nähere Angaben E-ISBN
024 8# - Anderer Standardidentifier
Standardnummer oder Code 978-0387-39620-0
Nähere Angaben E-ISBN
028 52 - Verlegernummer
Verlegernummer 11349358
035 ## - Systemkontrollnummer
System-Kontrollnummer (DE-D210)CP000005933
035 ## - Systemkontrollnummer
System-Kontrollnummer (DE-576)258536926
035 ## - Systemkontrollnummer
System-Kontrollnummer (DE-627)509408273
035 ## - Systemkontrollnummer
System-Kontrollnummer (DE-599)DNB978881575
035 ## - Systemkontrollnummer
System-Kontrollnummer (OCoLC)255526576
035 ## - Systemkontrollnummer
System-Kontrollnummer (OCoLC)315374307
040 ## - Katalogisierungsquelle
Original-Katalogisierungsstelle DE-627
Katalogisierungssprache ger
Übertragungsstelle DE-627
Beschreibungsfestlegungen rakwb
041 ## - Sprachcode
Sprachcode des Textes/der Tonspur oder des separaten Titels eng
044 ## - Ländercode der veröffentlichenden/herstellenden Stelle
ISO-Ländercode XD-US
050 #0 - Signatur der Library of Congress
Notation QH212.S3
072 #7 - Code der Sacherschließungskategorie
Code der Sacherschließungskategorie TBN
Quelle bicssc
072 #7 - Code der Sacherschließungskategorie
Code der Sacherschließungskategorie TEC027000
Quelle bisacsh
072 #7 - Code der Sacherschließungskategorie
Code der Sacherschließungskategorie SCI050000
Quelle bisacsh
082 0# - Notation nach der Dewey Decimal Classification
Notation 502.825
082 04 - Notation nach der Dewey Decimal Classification
Notation 530
084 ## - Andere Notation
Notation UH 6310
Quelle der Nummer rvk
IDN des Normdatensatzes oder Standardnummer (DE-625)rvk/159500:
084 ## - Andere Notation
Notation UH 6300
Quelle der Nummer rvk
IDN des Normdatensatzes oder Standardnummer (DE-625)rvk/159498:
084 ## - Andere Notation
Notation 33.68
Quelle der Nummer bkl
084 ## - Andere Notation
Notation 51.20
Quelle der Nummer bkl
090 ## - LOCALLY ASSIGNED LC-TYPE CALL NUMBER (OCLC); LOCAL CALL NUMBER (RLIN)
Notation (OCLC) (R) ; Notation, CALL (RLIN) (NR) a
245 00 - Titel
Titel Scanning microscopy for nanotechnology
Zusatz zum Titel techniques and applications
Verfasserangabe etc. ed. by Weilie Zhou and Zhong Lin Wang
264 #1 - Produktion, Veröffentlichung, Distribution, Herstellung und Urheberrechtsvermerk
Herstellungs-, Veröffentlichungs- Vertriebs-, Erzeugungsort New York, NY
Produzent, Herausgeber, Distributor, Hersteller Springer
Datum der Herstellung, der Veröffentlichung, des Vertriebs oder des Urheberschutzvermerks 2007
300 ## - Physische Beschreibung
Umfang XIV, 522 S.
Weitere äußerliche Details zahlr. Ill., graph. Darst.
336 ## - Inhaltstyp
Inhaltstypterm Text
Inhaltstypcode txt
Quelle rdacontent
337 ## - Medientyp
Bezeichnung des Medientyps ohne Hilfsmittel zu benutzen
Medientypcode n
Quelle rdamedia
338 ## - Datenträgertyp
Datenträgertypbezeichnung Band
Datenträgertypcode nc
Quelle rdacarrier
500 ## - Allgemeine Fußnote
Allgemeine Fußnote Literaturangaben
583 1# - Fußnote zum Bearbeitungsvermerk
Aktion Archivierung prüfen
Zeit/Datum der Bearbeitung 20240324
Autorisierende Stelle DE-4165
OPAC-Notiz 1
Quelle der Ansetzung oder des Terms pdager
583 1# - Fußnote zum Bearbeitungsvermerk
Aktion Archivierung/Langzeitarchivierung gewährleistet
Zeit/Datum der Bearbeitung 20240722
Autorisierende Stelle NI-LastCopies
OPAC-Notiz Potenzieller Alleinbesitz Niedersachsen
Quelle der Ansetzung oder des Terms pdager
Das Unterfeld gibt die Institution an, auf die sich das Feld bezieht DE-89
583 1# - Fußnote zum Bearbeitungsvermerk
Aktion Archivierung prüfen
Zeit/Datum der Bearbeitung 20250503
Autorisierende Stelle DE-640
OPAC-Notiz 3
Quelle der Ansetzung oder des Terms pdager
650 #0 - Nebeneintragung unter einem Schlagwort - Sachschlagwort
Sachschlagwort oder geografischer Name als Eintragungselement Scanning electron microscopy
650 #0 - Nebeneintragung unter einem Schlagwort - Sachschlagwort
Sachschlagwort oder geografischer Name als Eintragungselement Nanotechnology
689 00 -
-- s
-- (DE-588)4048455-5
-- (DE-627)106190644
-- (DE-576)209077956
-- Rasterelektronenmikroskopie
-- gnd
689 01 -
-- s
-- (DE-588)4342626-8
-- (DE-627)153672439
-- (DE-576)211436038
-- Nanostrukturiertes Material
-- gnd
689 02 -
-- s
-- (DE-588)4204530-7
-- (DE-627)105142662
-- (DE-576)210162775
-- Nanostruktur
-- gnd
689 0# -
-- (DE-627)
951 ## - EQUIVALENCE OR CROSS-REFERENCE--GEOGRAPHIC NAME/AREA NAME [OBSOLETE] [CAN/MARC only]
Geografischer Name BO
700 1# - Nebeneintragung - Personenname
Personenname Zhou, Weilie
Funktionsbezeichnung Hrsg.
Beziehung edt
700 1# - Nebeneintragung - Personenname
Personenname Wang, Zhong Lin
IDN des Normdatensatzes oder Standardnummer (DE-588)1055792007
-- (DE-627)793834791
-- (DE-576)411197509
Beziehung oth
776 08 - Andere physische Form
Beziehungsinformationen Online-Ausg.
Titel Scanning microscopy for nanotechnology
Ort, Verlag und Erscheinungsjahr New York, NY : Springer, 2007
Physische Beschreibung Online-Ressource
Datensatzkontrollnummer (DE-627)546653235
Internationale Standardbuchnummer 9780387396200
776 08 - Andere physische Form
Beziehungsinformationen Erscheint auch als
Hinweis Online-Ausgabe
Titel Scanning Microscopy for Nanotechnology
Ort, Verlag und Erscheinungsjahr New York, NY : Springer New York, 2007
Physische Beschreibung Online-Ressource (XIV, 522 p, digital)
Datensatzkontrollnummer (DE-627)164544368X
-- (DE-576)264367103
Internationale Standardbuchnummer 9780387396200
856 42 - Elektronische Adresse und Zugriff
Uniform Resource Identifier <a href="https://swbplus.bsz-bw.de/bsz258536926cov.jpg">https://swbplus.bsz-bw.de/bsz258536926cov.jpg</a>
Kontaktstelle für Hilfe beim Zugriff V:DE-576
-- X:springer
Elektronisches Format image/jpeg
Zugriffszeiten 20081205161737
Beilagen Cover
856 42 - Elektronische Adresse und Zugriff
Uniform Resource Identifier <a href="https://swbplus.bsz-bw.de/bsz258536926kap.htm">https://swbplus.bsz-bw.de/bsz258536926kap.htm</a>
Kontaktstelle für Hilfe beim Zugriff V:DE-576
Elektronisches Format application/pdf
Zugriffszeiten 2007-01-09
Beilagen Kapitel
856 42 - Elektronische Adresse und Zugriff
Uniform Resource Identifier <a href="https://swbplus.bsz-bw.de/bsz258536926vor.htm">https://swbplus.bsz-bw.de/bsz258536926vor.htm</a>
Kontaktstelle für Hilfe beim Zugriff V:DE-576
Elektronisches Format application/pdf
Zugriffszeiten 2007-01-09
Beilagen Einführung/Vorwort
856 42 - Elektronische Adresse und Zugriff
Uniform Resource Identifier <a href="https://swbplus.bsz-bw.de/bsz258536926inh.htm">https://swbplus.bsz-bw.de/bsz258536926inh.htm</a>
Kontaktstelle für Hilfe beim Zugriff V:DE-576
Elektronisches Format application/pdf
Zugriffszeiten 2007-01-09
Beilagen Inhaltsverzeichnis
856 42 - Elektronische Adresse und Zugriff
Uniform Resource Identifier <a href="http://www.loc.gov/catdir/enhancements/fy0823/2006925865-d.html">http://www.loc.gov/catdir/enhancements/fy0823/2006925865-d.html</a>
Verknüpfungstext Publisher description
856 42 - Elektronische Adresse und Zugriff
Uniform Resource Identifier <a href="http://deposit.dnb.de/cgi-bin/dokserv?id=2784081&prov=M&dok_var=1&dok_ext=htm">http://deposit.dnb.de/cgi-bin/dokserv?id=2784081&prov=M&dok_var=1&dok_ext=htm</a>
Elektronisches Format text/html
Beilagen Inhaltstext
935 ## -
-- sf
935 ## -
-- Blocktest
936 rv - OCLC/CONSER MISCELLANEOUS DATA (OCLC); PIECE USED FOR CATALOGING (pre-AACR2) (RLIN)
OCLC control number(s) of parallel record(s) (OCLC); Piece used for cataloging, PUC (RLIN) UH 6310
-- Sekundärelektronen-Rasterelektronenmikroskopie einschließlich Elektronenstrahlmikroanalyse insgesamt, Allgemeines
-- Physik
-- Klassische Felder, Elektrizitätslehre, Optik, Quantenoptik, Laser, Relativitätstheorie
-- Quantenoptik, Laser- und Masertheorie, Quantenelektronik, Teilchenoptik, Relativitätstheorie
-- Teilchenoptik, Ionenstrahloptik
-- Teilchenoptik, Elektronenmikroskopie
-- Sekundärelektronen-Rasterelektronenmikroskopie einschließlich Elektronenstrahlmikroanalyse
-- Sekundärelektronen-Rasterelektronenmikroskopie einschließlich Elektronenstrahlmikroanalyse insgesamt, Allgemeines
-- (DE-627)1271513714
-- (DE-625)rvk/159500:
-- (DE-576)201513714
936 rv - OCLC/CONSER MISCELLANEOUS DATA (OCLC); PIECE USED FOR CATALOGING (pre-AACR2) (RLIN)
OCLC control number(s) of parallel record(s) (OCLC); Piece used for cataloging, PUC (RLIN) UH 6300
-- Transmissionselektronenmikroskopie insgesamt, Allgemeines
-- Physik
-- Klassische Felder, Elektrizitätslehre, Optik, Quantenoptik, Laser, Relativitätstheorie
-- Quantenoptik, Laser- und Masertheorie, Quantenelektronik, Teilchenoptik, Relativitätstheorie
-- Teilchenoptik, Ionenstrahloptik
-- Teilchenoptik, Elektronenmikroskopie
-- Transmissionselektronenmikroskopie
-- Transmissionselektronenmikroskopie insgesamt, Allgemeines
-- (DE-627)1270714988
-- (DE-625)rvk/159498:
-- (DE-576)200714988
936 bk - OCLC/CONSER MISCELLANEOUS DATA (OCLC); PIECE USED FOR CATALOGING (pre-AACR2) (RLIN)
OCLC control number(s) of parallel record(s) (OCLC); Piece used for cataloging, PUC (RLIN) 33.68
-- Oberflächen
-- Dünne Schichten
-- Grenzflächen
-- Physik
-- (DE-627)10640444X
936 bk - OCLC/CONSER MISCELLANEOUS DATA (OCLC); PIECE USED FOR CATALOGING (pre-AACR2) (RLIN)
OCLC control number(s) of parallel record(s) (OCLC); Piece used for cataloging, PUC (RLIN) 51.20
-- Werkstoffoberflächeneigenschaften
-- (DE-627)106408410
942 ## - Zusätzliche Felder (Koha)
Koha-Medientyp Buch
Holdings
Ausgeschieden Status Verloren-Status Beschädigung Nicht ausleihbar Heimatbibliothek Aktuelle Bibliothek Zugangsdatum Inventarnummer Anzahl Ausleihen Signatur Barcode Letzte Aktivität Preis gültig ab Koha-Medientyp
        MPI CPfS MPI CPfS 2007-09-28 07 A 253 01 2 UH 6300 SCAN 10004891 2025-06-23 2025-06-23 Buch

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