Max Planck Institute for Chemical Physics of Solids - Library Catalog

Introduction to scanning tunneling microscopy (Record no. 5549)

MARC details
000 -Satzkennung
Kontrollfeld mit fester Länge 04115cam a2200697 c 4500
001 - Kontrollnummer
Kontrollfeld 1606757326
003 - Kontrollnummer Identifier
Kontrollfeld DE-627
005 - Datum und Zeit der letzten Transaktion
Kontrollfeld 20250624174403.0
007 - Feld mit fester Länge zur physischen Beschreibung - Allgemeine Information
Kontrollfeld mit fester Länge tu
008 - Feld mit fester Länge zur physischen Beschreibung - Allgemeine Angaben
Kontrollfeld mit fester Länge 070723s2008 xxk||||| 00| ||eng c
016 7# - Kontrollnummer der nationalbibliografischen Agentur
Datensatzkontrollnummer b740852
Quelle UK
020 ## - Internationale Standardbuchnummer
Internationale Standardbuchnummer 9780199211500
-- 978-0-19-921150-0
035 ## - Systemkontrollnummer
System-Kontrollnummer (DE-D210)CP000005915
035 ## - Systemkontrollnummer
System-Kontrollnummer (DE-576)266859585
035 ## - Systemkontrollnummer
System-Kontrollnummer (DE-627)1606757326
035 ## - Systemkontrollnummer
System-Kontrollnummer (DE-599)BSZ266859585
035 ## - Systemkontrollnummer
System-Kontrollnummer (OCoLC)255942918
035 ## - Systemkontrollnummer
System-Kontrollnummer (OCoLC)173717655
040 ## - Katalogisierungsquelle
Original-Katalogisierungsstelle DE-627
Katalogisierungssprache ger
Übertragungsstelle DE-627
Beschreibungsfestlegungen rakwb
041 ## - Sprachcode
Sprachcode des Textes/der Tonspur oder des separaten Titels eng
044 ## - Ländercode der veröffentlichenden/herstellenden Stelle
ISO-Ländercode XA-GB
-- XD-US
-- XE-NZ
050 #0 - Signatur der Library of Congress
Notation QH212.S35
082 0# - Notation nach der Dewey Decimal Classification
Notation 502.82
082 0# - Notation nach der Dewey Decimal Classification
Notation 502.825
084 ## - Andere Notation
Notation UH 6310
Quelle der Nummer rvk
IDN des Normdatensatzes oder Standardnummer (DE-625)rvk/159500:
084 ## - Andere Notation
Notation UH 6320
Zuweisende Stelle BVB
Quelle der Nummer rvk
IDN des Normdatensatzes oder Standardnummer (DE-625)rvk/145762:
084 ## - Andere Notation
Notation WC 3200
Zuweisende Stelle BVB
Quelle der Nummer rvk
IDN des Normdatensatzes oder Standardnummer (DE-625)rvk/148082:
084 ## - Andere Notation
Notation 33.05
Quelle der Nummer bkl
084 ## - Andere Notation
Notation 33.18
Quelle der Nummer bkl
084 ## - Andere Notation
Notation 33.68
Quelle der Nummer bkl
100 1# - Haupteintragung - Personenname
Personenname Chen, C. Julian
IDN des Normdatensatzes oder Standardnummer (DE-588)1080876596
-- (DE-627)845353969
-- (DE-576)453803644
Beziehung aut
Koha-Normdatenidentnummer 7108
245 10 - Titel
Titel Introduction to scanning tunneling microscopy
Verfasserangabe etc. C. Julian Chen
250 ## - Ausgabebezeichnung
Ausgabebezeichnung 2. ed.
264 #1 - Produktion, Veröffentlichung, Distribution, Herstellung und Urheberrechtsvermerk
Herstellungs-, Veröffentlichungs- Vertriebs-, Erzeugungsort Oxford [u.a.]
Produzent, Herausgeber, Distributor, Hersteller Oxford University Press
Datum der Herstellung, der Veröffentlichung, des Vertriebs oder des Urheberschutzvermerks 2008
300 ## - Physische Beschreibung
Umfang LXIII, 423 Seiten
Weitere äußerliche Details Illustrationen
Dimensionen 24cm
336 ## - Inhaltstyp
Inhaltstypterm Text
Inhaltstypcode txt
Quelle rdacontent
337 ## - Medientyp
Bezeichnung des Medientyps ohne Hilfsmittel zu benutzen
Medientypcode n
Quelle rdamedia
338 ## - Datenträgertyp
Datenträgertypbezeichnung Band
Datenträgertypcode nc
Quelle rdacarrier
490 1# - Gesamttitelangabe
Gesamttitelangabe Monographs on the physics and chemistry of materials
Bandnummer/Folgebezeichnung 64
500 ## - Allgemeine Fußnote
Allgemeine Fußnote Previous ed.: 1993
583 1# - Fußnote zum Bearbeitungsvermerk
Aktion Archivierung prüfen
Zeit/Datum der Bearbeitung 20240324
Autorisierende Stelle DE-4165
OPAC-Notiz 3
Quelle der Ansetzung oder des Terms pdager
650 #0 - Nebeneintragung unter einem Schlagwort - Sachschlagwort
Sachschlagwort oder geografischer Name als Eintragungselement Scanning tunneling microscopy
689 00 -
-- s
-- (DE-588)4252995-5
-- (DE-627)104588071
-- (DE-576)210527463
-- Rastertunnelmikroskopie
-- gnd
689 0# -
-- (DE-627)
689 10 -
-- s
-- (DE-588)4252995-5
-- (DE-627)104588071
-- (DE-576)210527463
-- Rastertunnelmikroskopie
-- gnd
689 1# -
-- (DE-627)
951 ## - EQUIVALENCE OR CROSS-REFERENCE--GEOGRAPHIC NAME/AREA NAME [OBSOLETE] [CAN/MARC only]
Geografischer Name BO
830 #0 - Nebeneintragung unter dem Gesamttitel - Einheitstitel
Einheitstitel Monographs on the physics and chemistry of materials
Bandnummer/Folgebezeichnung 64
Koha-Normdatenidentnummer 64
Datensatzkontrollnummer (DE-627)129128708
-- (DE-576)008503338
-- (DE-600)45942-2
Kontrollunterfeld am
856 42 - Elektronische Adresse und Zugriff
Uniform Resource Identifier <a href="http://bvbr.bib-bvb.de:8991/F?func=service&doc_library=BVB01&doc_number=016252646&line_number=0001&func_code=DB_RECORDS&service_type=MEDIA">http://bvbr.bib-bvb.de:8991/F?func=service&doc_library=BVB01&doc_number=016252646&line_number=0001&func_code=DB_RECORDS&service_type=MEDIA</a>
Kontaktstelle für Hilfe beim Zugriff V:DE-604
Elektronisches Format application/pdf
Zugriffszeiten 20090731000000
Beilagen Inhaltsverzeichnis
856 42 - Elektronische Adresse und Zugriff
Uniform Resource Identifier <a href="http://www.gbv.de/dms/ilmenau/toc/53091591X.PDF">http://www.gbv.de/dms/ilmenau/toc/53091591X.PDF</a>
Kontaktstelle für Hilfe beim Zugriff V:DE-601
-- B:DE-ilm1
Elektronisches Format pdf/application
Verknüpfungstext Inhaltsverzeichnis
Beilagen Inhaltsverzeichnis
856 42 - Elektronische Adresse und Zugriff
Uniform Resource Identifier <a href="http://www.loc.gov/catdir/toc/fy0803/2008271289.html">http://www.loc.gov/catdir/toc/fy0803/2008271289.html</a>
Verknüpfungstext Table of contents
889 ## -
-- (DE-627)53091591X
935 ## -
-- mdedup
936 rv - OCLC/CONSER MISCELLANEOUS DATA (OCLC); PIECE USED FOR CATALOGING (pre-AACR2) (RLIN)
OCLC control number(s) of parallel record(s) (OCLC); Piece used for cataloging, PUC (RLIN) UH 6310
-- Sekundärelektronen-Rasterelektronenmikroskopie einschließlich Elektronenstrahlmikroanalyse insgesamt, Allgemeines
-- Physik
-- Klassische Felder, Elektrizitätslehre, Optik, Quantenoptik, Laser, Relativitätstheorie
-- Quantenoptik, Laser- und Masertheorie, Quantenelektronik, Teilchenoptik, Relativitätstheorie
-- Teilchenoptik, Ionenstrahloptik
-- Teilchenoptik, Elektronenmikroskopie
-- Sekundärelektronen-Rasterelektronenmikroskopie einschließlich Elektronenstrahlmikroanalyse
-- Sekundärelektronen-Rasterelektronenmikroskopie einschließlich Elektronenstrahlmikroanalyse insgesamt, Allgemeines
-- (DE-627)1271513714
-- (DE-625)rvk/159500:
-- (DE-576)201513714
936 rv - OCLC/CONSER MISCELLANEOUS DATA (OCLC); PIECE USED FOR CATALOGING (pre-AACR2) (RLIN)
OCLC control number(s) of parallel record(s) (OCLC); Piece used for cataloging, PUC (RLIN) UH 6320
-- Rastersondenmikroskopie allgemein
-- Physik
-- Klassische Felder, Elektrizitätslehre, Optik, Quantenoptik, Laser, Relativitätstheorie
-- Quantenoptik, Laser- und Masertheorie, Quantenelektronik, Teilchenoptik, Relativitätstheorie
-- Teilchenoptik, Ionenstrahloptik
-- Teilchenoptik, Elektronenmikroskopie
-- Rastersondenmikroskopie allgemein
-- (DE-627)1271643618
-- (DE-625)rvk/145762:
-- (DE-576)201643618
936 rv - OCLC/CONSER MISCELLANEOUS DATA (OCLC); PIECE USED FOR CATALOGING (pre-AACR2) (RLIN)
OCLC control number(s) of parallel record(s) (OCLC); Piece used for cataloging, PUC (RLIN) WC 3200
-- Sonstige mikroskopische Verfahren (z.B. Stereoskopie)
-- Biologie
-- Methoden
-- Physikalisch-chemische Methoden
-- Mikroskopie und mikroskopische Techniken allgemein
-- Sonstige mikroskopische Verfahren (z.B. Stereoskopie)
-- (DE-627)1271480085
-- (DE-625)rvk/148082:
-- (DE-576)201480085
936 bk - OCLC/CONSER MISCELLANEOUS DATA (OCLC); PIECE USED FOR CATALOGING (pre-AACR2) (RLIN)
OCLC control number(s) of parallel record(s) (OCLC); Piece used for cataloging, PUC (RLIN) 33.05
-- Experimentalphysik
-- (DE-627)181571102
936 bk - OCLC/CONSER MISCELLANEOUS DATA (OCLC); PIECE USED FOR CATALOGING (pre-AACR2) (RLIN)
OCLC control number(s) of parallel record(s) (OCLC); Piece used for cataloging, PUC (RLIN) 33.18
-- Optik
-- (DE-627)106419102
936 bk - OCLC/CONSER MISCELLANEOUS DATA (OCLC); PIECE USED FOR CATALOGING (pre-AACR2) (RLIN)
OCLC control number(s) of parallel record(s) (OCLC); Piece used for cataloging, PUC (RLIN) 33.68
-- Oberflächen
-- Dünne Schichten
-- Grenzflächen
-- Physik
-- (DE-627)10640444X
942 ## - Zusätzliche Felder (Koha)
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