Max Planck Institute for Chemical Physics of Solids - Library Catalog

Electron microscopy and analysis (Record no. 3053)

MARC details
000 -Satzkennung
Kontrollfeld mit fester Länge 03925cam a2200757 c 4500
001 - Kontrollnummer
Kontrollfeld 1614604606
003 - Kontrollnummer Identifier
Kontrollfeld DE-627
005 - Datum und Zeit der letzten Transaktion
Kontrollfeld 20250710062705.0
007 - Feld mit fester Länge zur physischen Beschreibung - Allgemeine Information
Kontrollfeld mit fester Länge tu
008 - Feld mit fester Länge zur physischen Beschreibung - Allgemeine Angaben
Kontrollfeld mit fester Länge 001211s2001 xxk||||| 00| ||eng c
010 ## - Kontrollnummer der Library of Congress
LC-Kontrollnummer 00037716
020 ## - Internationale Standardbuchnummer
Internationale Standardbuchnummer 0748409688
Bezugsbedingungen (pbk. : alk. paper)
-- 0-7484-0968-8
024 3# - Anderer Standardidentifier
Standardnummer oder Code 9780748409686
035 ## - Systemkontrollnummer
System-Kontrollnummer (DE-D210)CP000003190
035 ## - Systemkontrollnummer
System-Kontrollnummer (DE-576)088629538
035 ## - Systemkontrollnummer
System-Kontrollnummer (DE-627)1614604606
035 ## - Systemkontrollnummer
System-Kontrollnummer (DE-599)BSZ088629538
035 ## - Systemkontrollnummer
System-Kontrollnummer (OCoLC)247548201
035 ## - Systemkontrollnummer
System-Kontrollnummer (OCoLC)43787600
040 ## - Katalogisierungsquelle
Original-Katalogisierungsstelle DE-627
Katalogisierungssprache ger
Übertragungsstelle DE-627
Beschreibungsfestlegungen rakwb
041 ## - Sprachcode
Sprachcode des Textes/der Tonspur oder des separaten Titels eng
044 ## - Ländercode der veröffentlichenden/herstellenden Stelle
ISO-Ländercode XA-GB
-- XD-US
050 #0 - Signatur der Library of Congress
Notation QH212.E4
082 0# - Notation nach der Dewey Decimal Classification
Notation 502/.8/25
082 0# - Notation nach der Dewey Decimal Classification
Notation 502.825
084 ## - Andere Notation
Notation 11
Quelle der Nummer ssgn
084 ## - Andere Notation
Notation UH 6300
Quelle der Nummer rvk
IDN des Normdatensatzes oder Standardnummer (DE-625)rvk/159498:
084 ## - Andere Notation
Notation WC 3100
Zuweisende Stelle OBV
Quelle der Nummer rvk
IDN des Normdatensatzes oder Standardnummer (DE-625)rvk/148081:
084 ## - Andere Notation
Notation 33.18
Quelle der Nummer bkl
084 ## - Andere Notation
Notation 33.05
Quelle der Nummer bkl
084 ## - Andere Notation
Notation 51.30
Quelle der Nummer bkl
084 ## - Andere Notation
Notation 30.03
Quelle der Nummer bkl
100 1# - Haupteintragung - Personenname
Personenname Goodhew, Peter J.
Datumsangaben in Verbindung mit einem Namen 1943-
IDN des Normdatensatzes oder Standardnummer (DE-588)1055754075
-- (DE-627)793800420
-- (DE-576)411235427
Beziehung aut
Koha-Normdatenidentnummer 6890
245 10 - Titel
Titel Electron microscopy and analysis
Verfasserangabe etc. Peter J. Goodhew; John Humphreys; Richard Beanland
250 ## - Ausgabebezeichnung
Ausgabebezeichnung 3. ed.
264 #1 - Produktion, Veröffentlichung, Distribution, Herstellung und Urheberrechtsvermerk
Herstellungs-, Veröffentlichungs- Vertriebs-, Erzeugungsort London [u.a.]
Produzent, Herausgeber, Distributor, Hersteller Taylor & Francis
Datum der Herstellung, der Veröffentlichung, des Vertriebs oder des Urheberschutzvermerks 2001
300 ## - Physische Beschreibung
Umfang X, 251 S.
Weitere äußerliche Details Ill., graph. Darst.
336 ## - Inhaltstyp
Inhaltstypterm Text
Inhaltstypcode txt
Quelle rdacontent
337 ## - Medientyp
Bezeichnung des Medientyps ohne Hilfsmittel zu benutzen
Medientypcode n
Quelle rdamedia
338 ## - Datenträgertyp
Datenträgertypbezeichnung Band
Datenträgertypcode nc
Quelle rdacarrier
500 ## - Allgemeine Fußnote
Allgemeine Fußnote Includes bibliographical references (p. [236] - 237) and index
500 ## - Allgemeine Fußnote
Allgemeine Fußnote Previous ed.: 1988
583 1# - Fußnote zum Bearbeitungsvermerk
Aktion Archivierung prüfen
Zeit/Datum der Bearbeitung 20240324
Autorisierende Stelle DE-4165
OPAC-Notiz 3
Quelle der Ansetzung oder des Terms pdager
583 1# - Fußnote zum Bearbeitungsvermerk
Aktion Archivierung prüfen
Zeit/Datum der Bearbeitung 20250503
Autorisierende Stelle DE-640
OPAC-Notiz 3
Quelle der Ansetzung oder des Terms pdager
650 #0 - Nebeneintragung unter einem Schlagwort - Sachschlagwort
Sachschlagwort oder geografischer Name als Eintragungselement Electron microscopy
689 00 -
-- s
-- (DE-588)4014327-2
-- (DE-627)106340549
-- (DE-576)208907351
-- Elektronenmikroskopie
-- gnd
689 0# -
-- (DE-627)
689 10 -
-- s
-- (DE-588)4014327-2
-- (DE-627)106340549
-- (DE-576)208907351
-- Elektronenmikroskopie
-- gnd
689 1# -
-- (DE-627)
951 ## - EQUIVALENCE OR CROSS-REFERENCE--GEOGRAPHIC NAME/AREA NAME [OBSOLETE] [CAN/MARC only]
Geografischer Name BO
700 1# - Nebeneintragung - Personenname
Personenname Beanland, Richard
Beziehung oth
700 1# - Nebeneintragung - Personenname
Personenname Humphreys, F. J.
Datumsangaben in Verbindung mit einem Namen 1941-
IDN des Normdatensatzes oder Standardnummer (DE-588)1089158025
-- (DE-627)85298023X
-- (DE-576)459880888
Beziehung oth
Koha-Normdatenidentnummer 7152
776 08 - Andere physische Form
Beziehungsinformationen Online-Ausg.
Haupteintragung Goodhew, Peter J., 1943 -
Titel Electron microscopy and analysis
Auflage 3. ed.
Ort, Verlag und Erscheinungsjahr London [u.a.] : Taylor & Francis, 2001
Physische Beschreibung X, 251 S.
Datensatzkontrollnummer (DE-627)1644514427
-- (DE-576)260019496
Internationale Standardbuchnummer 9780748409686
776 08 - Andere physische Form
Beziehungsinformationen Erscheint auch als
Hinweis Online-Ausgabe
Haupteintragung Goodhew, Peter J., 1943 -
Titel Electron Microscopy and Analysis.
Auflage 3rd ed.
Ort, Verlag und Erscheinungsjahr London [u.a.] : Taylor & Francis, 2000
Physische Beschreibung 1 online resource (264 pages)
Datensatzkontrollnummer (DE-627)1658479874
-- (DE-576)515543896
Internationale Standardbuchnummer 9780203184257
-- 0748409688
-- 9780748409686
856 42 - Elektronische Adresse und Zugriff
Uniform Resource Identifier <a href="http://www.gbv.de/dms/ohb-opac/312570163.pdf">http://www.gbv.de/dms/ohb-opac/312570163.pdf</a>
Kontaktstelle für Hilfe beim Zugriff V:DE-601
-- B:DE-Goe116
Elektronisches Format pdf/application
Verknüpfungstext Inhaltsverzeichnis
Beilagen Inhaltsverzeichnis
856 42 - Elektronische Adresse und Zugriff
Uniform Resource Identifier <a href="http://www.loc.gov/catdir/enhancements/fy0652/00037716-d.html">http://www.loc.gov/catdir/enhancements/fy0652/00037716-d.html</a>
Verknüpfungstext Publisher description
889 ## -
-- (DE-627)312570163
935 ## -
-- mdedup
936 rv - OCLC/CONSER MISCELLANEOUS DATA (OCLC); PIECE USED FOR CATALOGING (pre-AACR2) (RLIN)
OCLC control number(s) of parallel record(s) (OCLC); Piece used for cataloging, PUC (RLIN) UH 6300
-- Transmissionselektronenmikroskopie insgesamt, Allgemeines
-- Physik
-- Klassische Felder, Elektrizitätslehre, Optik, Quantenoptik, Laser, Relativitätstheorie
-- Quantenoptik, Laser- und Masertheorie, Quantenelektronik, Teilchenoptik, Relativitätstheorie
-- Teilchenoptik, Ionenstrahloptik
-- Teilchenoptik, Elektronenmikroskopie
-- Transmissionselektronenmikroskopie
-- Transmissionselektronenmikroskopie insgesamt, Allgemeines
-- (DE-627)1270714988
-- (DE-625)rvk/159498:
-- (DE-576)200714988
936 rv - OCLC/CONSER MISCELLANEOUS DATA (OCLC); PIECE USED FOR CATALOGING (pre-AACR2) (RLIN)
OCLC control number(s) of parallel record(s) (OCLC); Piece used for cataloging, PUC (RLIN) WC 3100
-- Elektronenmikroskopie
-- Biologie
-- Methoden
-- Physikalisch-chemische Methoden
-- Mikroskopie und mikroskopische Techniken allgemein
-- Elektronenmikroskopie
-- (DE-627)1271535939
-- (DE-625)rvk/148081:
-- (DE-576)201535939
936 bk - OCLC/CONSER MISCELLANEOUS DATA (OCLC); PIECE USED FOR CATALOGING (pre-AACR2) (RLIN)
OCLC control number(s) of parallel record(s) (OCLC); Piece used for cataloging, PUC (RLIN) 33.18
-- Optik
-- (DE-627)106419102
936 bk - OCLC/CONSER MISCELLANEOUS DATA (OCLC); PIECE USED FOR CATALOGING (pre-AACR2) (RLIN)
OCLC control number(s) of parallel record(s) (OCLC); Piece used for cataloging, PUC (RLIN) 33.05
-- Experimentalphysik
-- (DE-627)181571102
936 bk - OCLC/CONSER MISCELLANEOUS DATA (OCLC); PIECE USED FOR CATALOGING (pre-AACR2) (RLIN)
OCLC control number(s) of parallel record(s) (OCLC); Piece used for cataloging, PUC (RLIN) 51.30
-- Werkstoffprüfung
-- Werkstoffuntersuchung
-- (DE-627)106414054
936 bk - OCLC/CONSER MISCELLANEOUS DATA (OCLC); PIECE USED FOR CATALOGING (pre-AACR2) (RLIN)
OCLC control number(s) of parallel record(s) (OCLC); Piece used for cataloging, PUC (RLIN) 30.03
-- Methoden und Techniken in den Naturwissenschaften
-- (DE-627)106415980
942 ## - Zusätzliche Felder (Koha)
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