Max Planck Institute for Chemical Physics of Solids - Library Catalog

Scanning tunneling microscopy and its applications (Record no. 2978)

MARC details
000 -Satzkennung
Kontrollfeld mit fester Länge 04409cam a2200877 c 4500
001 - Kontrollnummer
Kontrollfeld 319650138
003 - Kontrollnummer Identifier
Kontrollfeld DE-627
005 - Datum und Zeit der letzten Transaktion
Kontrollfeld 20250624174238.0
007 - Feld mit fester Länge zur physischen Beschreibung - Allgemeine Information
Kontrollfeld mit fester Länge tu
008 - Feld mit fester Länge zur physischen Beschreibung - Allgemeine Angaben
Kontrollfeld mit fester Länge 000921s2000 gw ||||| 00| ||eng c
010 ## - Kontrollnummer der Library of Congress
LC-Kontrollnummer 99034035
015 ## - Nummer der Nationalbibliografie
Nummer der Nationalbibliografie 00,A43,0934
Quelle dnb
016 7# - Kontrollnummer der nationalbibliografischen Agentur
Datensatzkontrollnummer 3540657150
Quelle UK
016 7# - Kontrollnummer der nationalbibliografischen Agentur
Datensatzkontrollnummer 956573304
Quelle DE-101
020 ## - Internationale Standardbuchnummer
Internationale Standardbuchnummer 7532327876
-- 7-5323-2787-6
020 ## - Internationale Standardbuchnummer
Internationale Standardbuchnummer 3540657150
-- 3-540-65715-0
024 3# - Anderer Standardidentifier
Standardnummer oder Code 9783540657156
035 ## - Systemkontrollnummer
System-Kontrollnummer (DE-D210)CP000003114
035 ## - Systemkontrollnummer
System-Kontrollnummer (DE-576)087308142
035 ## - Systemkontrollnummer
System-Kontrollnummer (DE-627)319650138
035 ## - Systemkontrollnummer
System-Kontrollnummer (DE-599)GBV319650138
035 ## - Systemkontrollnummer
System-Kontrollnummer (OCoLC)41606265
035 ## - Systemkontrollnummer
System-Kontrollnummer (OCoLC)247888441
035 ## - Systemkontrollnummer
System-Kontrollnummer (JUB)b10565978
040 ## - Katalogisierungsquelle
Original-Katalogisierungsstelle DE-627
Katalogisierungssprache ger
Übertragungsstelle DE-627
Beschreibungsfestlegungen rakwb
041 ## - Sprachcode
Sprachcode des Textes/der Tonspur oder des separaten Titels eng
044 ## - Ländercode der veröffentlichenden/herstellenden Stelle
ISO-Ländercode XA-DE
-- XD-US
050 #0 - Signatur der Library of Congress
Notation QC173.4.S94
050 #0 - Signatur der Library of Congress
Notation QC173.4.S94B35 1999
082 0# - Notation nach der Dewey Decimal Classification
Notation 502.825
082 0# - Notation nach der Dewey Decimal Classification
Notation 502/.8/25
082 0# - Notation nach der Dewey Decimal Classification
Notation 502.82
084 ## - Andere Notation
Notation 29
Quelle der Nummer sdnb
084 ## - Andere Notation
Notation UH 6320
Quelle der Nummer rvk
IDN des Normdatensatzes oder Standardnummer (DE-625)rvk/145762:
084 ## - Andere Notation
Notation UH 6310
Quelle der Nummer rvk
IDN des Normdatensatzes oder Standardnummer (DE-625)rvk/159500:
084 ## - Andere Notation
Notation 33.05
Quelle der Nummer bkl
084 ## - Andere Notation
Notation 33.68
Quelle der Nummer bkl
084 ## - Andere Notation
Notation 51.20
Quelle der Nummer bkl
100 1# - Haupteintragung - Personenname
Personenname Bai, Chunli
Datumsangaben in Verbindung mit einem Namen 1953-
IDN des Normdatensatzes oder Standardnummer (DE-588)121131424
-- (DE-627)081107501
-- (DE-576)292552785
Beziehung aut
Koha-Normdatenidentnummer 441
240 10 - Einheitstitel
Einheitstitel Saomiao suidao xianweishu ji qi yingyong <engl.>
245 10 - Titel
Titel Scanning tunneling microscopy and its applications
Verfasserangabe etc. Chunli Bai
250 ## - Ausgabebezeichnung
Ausgabebezeichnung 2., rev. ed.
264 #1 - Produktion, Veröffentlichung, Distribution, Herstellung und Urheberrechtsvermerk
Herstellungs-, Veröffentlichungs- Vertriebs-, Erzeugungsort Berlin
-- Heidelberg [u.a.]
Produzent, Herausgeber, Distributor, Hersteller Springer
Datum der Herstellung, der Veröffentlichung, des Vertriebs oder des Urheberschutzvermerks 2000
264 #1 - Produktion, Veröffentlichung, Distribution, Herstellung und Urheberrechtsvermerk
Herstellungs-, Veröffentlichungs- Vertriebs-, Erzeugungsort Shanghai
Produzent, Herausgeber, Distributor, Hersteller Shanghai Scientific & Technical Publishers
Datum der Herstellung, der Veröffentlichung, des Vertriebs oder des Urheberschutzvermerks 2000
300 ## - Physische Beschreibung
Umfang XIV, 368 S.
Weitere äußerliche Details Ill., graph. Darst.
Dimensionen 25 cm
336 ## - Inhaltstyp
Inhaltstypterm Text
Inhaltstypcode txt
Quelle rdacontent
337 ## - Medientyp
Bezeichnung des Medientyps ohne Hilfsmittel zu benutzen
Medientypcode n
Quelle rdamedia
338 ## - Datenträgertyp
Datenträgertypbezeichnung Band
Datenträgertypcode nc
Quelle rdacarrier
490 1# - Gesamttitelangabe
Gesamttitelangabe Springer series in surface sciences
Bandnummer/Folgebezeichnung 32
490 0# - Gesamttitelangabe
Gesamttitelangabe Physics and astronomy online library
500 ## - Allgemeine Fußnote
Allgemeine Fußnote Previous ed.: 1995
500 ## - Allgemeine Fußnote
Allgemeine Fußnote Includes bibliographical references and index
505 8# - Fußnote zu strukturierten Inhaltsangaben
Fußnote zu strukturierten Inhaltsangaben Literaturverz. S. 345 - 364
583 1# - Fußnote zum Bearbeitungsvermerk
Aktion Archivierung/Langzeitarchivierung gewährleistet
Autorisierende Stelle PEBW
Quelle der Ansetzung oder des Terms pdager
Das Unterfeld gibt die Institution an, auf die sich das Feld bezieht DE-31
650 #0 - Nebeneintragung unter einem Schlagwort - Sachschlagwort
Sachschlagwort oder geografischer Name als Eintragungselement Surfaces (Physics)
650 #0 - Nebeneintragung unter einem Schlagwort - Sachschlagwort
Sachschlagwort oder geografischer Name als Eintragungselement Surfaces Physics
650 #0 - Nebeneintragung unter einem Schlagwort - Sachschlagwort
Sachschlagwort oder geografischer Name als Eintragungselement Scanning tunneling microscopy
650 #0 - Nebeneintragung unter einem Schlagwort - Sachschlagwort
Sachschlagwort oder geografischer Name als Eintragungselement Surface chemistry
689 00 -
-- s
-- (DE-588)4252995-5
-- (DE-627)104588071
-- (DE-576)210527463
-- Rastertunnelmikroskopie
-- gnd
689 0# -
-- DE-101
689 10 -
-- s
-- (DE-588)4252995-5
-- (DE-627)104588071
-- (DE-576)210527463
-- Rastertunnelmikroskopie
-- gnd
689 1# -
-- (DE-627)
951 ## - EQUIVALENCE OR CROSS-REFERENCE--GEOGRAPHIC NAME/AREA NAME [OBSOLETE] [CAN/MARC only]
Geografischer Name BO
700 12 - Nebeneintragung - Personenname
Personenname Bai, Chunli
Datumsangaben in Verbindung mit einem Namen 1953-
Titel eines Werkes Saomiao suidao xianweishu ji qi yingyong <engl.>
700 12 - Nebeneintragung - Personenname
Personenname Bai, Chunli
Datumsangaben in Verbindung mit einem Namen 1953-
Titel eines Werkes Saomiao suidao xian weishu ji qi yingyong <engl.>
830 #0 - Nebeneintragung unter dem Gesamttitel - Einheitstitel
Einheitstitel Springer series in surface sciences
Bandnummer/Folgebezeichnung 32
Koha-Normdatenidentnummer 32.200
Datensatzkontrollnummer (DE-627)129189855
-- (DE-576)010894039
-- (DE-600)53140-6
Internationale Standardseriennummer 0931-5195
Kontrollunterfeld am
856 42 - Elektronische Adresse und Zugriff
Uniform Resource Identifier <a href="http://www.gbv.de/dms/ilmenau/toc/319650138.PDF">http://www.gbv.de/dms/ilmenau/toc/319650138.PDF</a>
Kontaktstelle für Hilfe beim Zugriff V:DE-601
-- B:DE-ilm1
Elektronisches Format pdf/application
Verknüpfungstext Inhaltsverzeichnis
Beilagen Inhaltsverzeichnis
856 42 - Elektronische Adresse und Zugriff
Uniform Resource Identifier <a href="http://www.loc.gov/catdir/enhancements/fy0815/99034035-d.html">http://www.loc.gov/catdir/enhancements/fy0815/99034035-d.html</a>
Verknüpfungstext Publisher description
935 ## -
-- Blocktest
936 rv - OCLC/CONSER MISCELLANEOUS DATA (OCLC); PIECE USED FOR CATALOGING (pre-AACR2) (RLIN)
OCLC control number(s) of parallel record(s) (OCLC); Piece used for cataloging, PUC (RLIN) UH 6320
-- Rastersondenmikroskopie allgemein
-- Physik
-- Klassische Felder, Elektrizitätslehre, Optik, Quantenoptik, Laser, Relativitätstheorie
-- Quantenoptik, Laser- und Masertheorie, Quantenelektronik, Teilchenoptik, Relativitätstheorie
-- Teilchenoptik, Ionenstrahloptik
-- Teilchenoptik, Elektronenmikroskopie
-- Rastersondenmikroskopie allgemein
-- (DE-627)1271643618
-- (DE-625)rvk/145762:
-- (DE-576)201643618
936 rv - OCLC/CONSER MISCELLANEOUS DATA (OCLC); PIECE USED FOR CATALOGING (pre-AACR2) (RLIN)
OCLC control number(s) of parallel record(s) (OCLC); Piece used for cataloging, PUC (RLIN) UH 6310
-- Sekundärelektronen-Rasterelektronenmikroskopie einschließlich Elektronenstrahlmikroanalyse insgesamt, Allgemeines
-- Physik
-- Klassische Felder, Elektrizitätslehre, Optik, Quantenoptik, Laser, Relativitätstheorie
-- Quantenoptik, Laser- und Masertheorie, Quantenelektronik, Teilchenoptik, Relativitätstheorie
-- Teilchenoptik, Ionenstrahloptik
-- Teilchenoptik, Elektronenmikroskopie
-- Sekundärelektronen-Rasterelektronenmikroskopie einschließlich Elektronenstrahlmikroanalyse
-- Sekundärelektronen-Rasterelektronenmikroskopie einschließlich Elektronenstrahlmikroanalyse insgesamt, Allgemeines
-- (DE-627)1271513714
-- (DE-625)rvk/159500:
-- (DE-576)201513714
936 bk - OCLC/CONSER MISCELLANEOUS DATA (OCLC); PIECE USED FOR CATALOGING (pre-AACR2) (RLIN)
OCLC control number(s) of parallel record(s) (OCLC); Piece used for cataloging, PUC (RLIN) 33.05
-- Experimentalphysik
-- (DE-627)181571102
936 bk - OCLC/CONSER MISCELLANEOUS DATA (OCLC); PIECE USED FOR CATALOGING (pre-AACR2) (RLIN)
OCLC control number(s) of parallel record(s) (OCLC); Piece used for cataloging, PUC (RLIN) 33.68
-- Oberflächen
-- Dünne Schichten
-- Grenzflächen
-- Physik
-- (DE-627)10640444X
936 bk - OCLC/CONSER MISCELLANEOUS DATA (OCLC); PIECE USED FOR CATALOGING (pre-AACR2) (RLIN)
OCLC control number(s) of parallel record(s) (OCLC); Piece used for cataloging, PUC (RLIN) 51.20
-- Werkstoffoberflächeneigenschaften
-- (DE-627)106408410
942 ## - Zusätzliche Felder (Koha)
Koha-Medientyp Buch
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