Max Planck Institute for Chemical Physics of Solids - Library Catalog

Advances in scanning probe microscopy (Record no. 2871)

MARC details
000 -Satzkennung
Kontrollfeld mit fester Länge 03765cam a2200733 c 4500
001 - Kontrollnummer
Kontrollfeld 30840422X
003 - Kontrollnummer Identifier
Kontrollfeld DE-627
005 - Datum und Zeit der letzten Transaktion
Kontrollfeld 20250624174237.0
007 - Feld mit fester Länge zur physischen Beschreibung - Allgemeine Information
Kontrollfeld mit fester Länge tu
008 - Feld mit fester Länge zur physischen Beschreibung - Allgemeine Angaben
Kontrollfeld mit fester Länge 991222s2000 gw ||||| 00| ||eng c
015 ## - Nummer der Nationalbibliografie
Nummer der Nationalbibliografie 00,N04,0390
Quelle dnb
015 ## - Nummer der Nationalbibliografie
Nummer der Nationalbibliografie 00,A26,0710
Quelle dnb
016 7# - Kontrollnummer der nationalbibliografischen Agentur
Datensatzkontrollnummer 3540667180
Quelle UK
016 7# - Kontrollnummer der nationalbibliografischen Agentur
Datensatzkontrollnummer 95779374X
Quelle DE-101
020 ## - Internationale Standardbuchnummer
Internationale Standardbuchnummer 3540667180
Bezugsbedingungen Pp. : DM 149.00
-- 3-540-66718-0
024 3# - Anderer Standardidentifier
Standardnummer oder Code 9783540667186
035 ## - Systemkontrollnummer
System-Kontrollnummer (DE-D210)CP000003007
035 ## - Systemkontrollnummer
System-Kontrollnummer (DE-576)084566213
035 ## - Systemkontrollnummer
System-Kontrollnummer (DE-627)30840422X
035 ## - Systemkontrollnummer
System-Kontrollnummer (DE-599)GBV30840422X
035 ## - Systemkontrollnummer
System-Kontrollnummer (OCoLC)247800124
035 ## - Systemkontrollnummer
System-Kontrollnummer (OCoLC)42934618
035 ## - Systemkontrollnummer
System-Kontrollnummer (AT-OBV)AC03072964
040 ## - Katalogisierungsquelle
Original-Katalogisierungsstelle DE-627
Katalogisierungssprache ger
Übertragungsstelle DE-627
Beschreibungsfestlegungen rakwb
041 ## - Sprachcode
Sprachcode des Textes/der Tonspur oder des separaten Titels eng
044 ## - Ländercode der veröffentlichenden/herstellenden Stelle
ISO-Ländercode XA-DE
-- XD-US
-- XA-ES
050 #0 - Signatur der Library of Congress
Notation QH212.S33
082 0# - Notation nach der Dewey Decimal Classification
Notation 621.38152
082 0# - Notation nach der Dewey Decimal Classification
Notation 621.3815/2
084 ## - Andere Notation
Notation 29
Quelle der Nummer sdnb
084 ## - Andere Notation
Notation 11
Quelle der Nummer ssgn
084 ## - Andere Notation
Notation UH 6300
Quelle der Nummer rvk
IDN des Normdatensatzes oder Standardnummer (DE-625)rvk/159498:
084 ## - Andere Notation
Notation UH 6310
Quelle der Nummer rvk
IDN des Normdatensatzes oder Standardnummer (DE-625)rvk/159500:
084 ## - Andere Notation
Notation 33.68
Quelle der Nummer bkl
084 ## - Andere Notation
Notation 33.72
Quelle der Nummer bkl
084 ## - Andere Notation
Notation 33.05
Quelle der Nummer bkl
245 00 - Titel
Titel Advances in scanning probe microscopy
Verfasserangabe etc. T. Sakurai ... (eds.)
263 ## - Geplantes Erscheinungsdatum
Geplantes Erscheinungsdatum Pp. : ca. DM 149.00
264 #1 - Produktion, Veröffentlichung, Distribution, Herstellung und Urheberrechtsvermerk
Herstellungs-, Veröffentlichungs- Vertriebs-, Erzeugungsort Berlin
-- Heidelberg [u.a.]
Produzent, Herausgeber, Distributor, Hersteller Springer
Datum der Herstellung, der Veröffentlichung, des Vertriebs oder des Urheberschutzvermerks 2000
300 ## - Physische Beschreibung
Umfang XIV, 341 S
Weitere äußerliche Details Ill., graph. Darst
336 ## - Inhaltstyp
Inhaltstypterm Text
Inhaltstypcode txt
Quelle rdacontent
337 ## - Medientyp
Bezeichnung des Medientyps ohne Hilfsmittel zu benutzen
Medientypcode n
Quelle rdamedia
338 ## - Datenträgertyp
Datenträgertypbezeichnung Band
Datenträgertypcode nc
Quelle rdacarrier
490 1# - Gesamttitelangabe
Gesamttitelangabe Advances in materials research
Bandnummer/Folgebezeichnung 2
505 8# - Fußnote zu strukturierten Inhaltsangaben
Fußnote zu strukturierten Inhaltsangaben Literaturangaben
583 1# - Fußnote zum Bearbeitungsvermerk
Aktion Archivierung/Langzeitarchivierung gewährleistet
Autorisierende Stelle PEBW
Quelle der Ansetzung oder des Terms pdager
Das Unterfeld gibt die Institution an, auf die sich das Feld bezieht DE-31
653 #0 - Indexierungsterm - Nicht normiert
Nicht-normierter Term Scanning probe microscopy
689 00 -
-- s
-- (DE-588)4330328-6
-- (DE-627)133215881
-- (DE-576)211310662
-- Rastersondenmikroskopie
-- gnd
689 0# -
-- DE-101
689 10 -
-- s
-- (DE-588)4330329-8
-- (DE-627)13321589X
-- (DE-576)211310670
-- Rastermikroskopie
-- gnd
689 1# -
-- (DE-627)
951 ## - EQUIVALENCE OR CROSS-REFERENCE--GEOGRAPHIC NAME/AREA NAME [OBSOLETE] [CAN/MARC only]
Geografischer Name BO
700 1# - Nebeneintragung - Personenname
Personenname Watanabe, Yousuke
Beziehung oth
700 1# - Nebeneintragung - Personenname
Personenname Sakurai, Toshio
Funktionsbezeichnung Hrsg.
IDN des Normdatensatzes oder Standardnummer (DE-588)1158102968
-- (DE-627)1021815020
-- (DE-576)50361114X
Beziehung edt
Koha-Normdatenidentnummer 7552
830 #0 - Nebeneintragung unter dem Gesamttitel - Einheitstitel
Einheitstitel Advances in materials research
Bandnummer/Folgebezeichnung 2
Koha-Normdatenidentnummer 2
Datensatzkontrollnummer (DE-627)270132066
-- (DE-576)070330808
-- (DE-600)1476989-X
Internationale Standardseriennummer 1435-1889
Kontrollunterfeld am
856 42 - Elektronische Adresse und Zugriff
Uniform Resource Identifier <a href="http://www.gbv.de/dms/ilmenau/toc/30840422X.PDF">http://www.gbv.de/dms/ilmenau/toc/30840422X.PDF</a>
Kontaktstelle für Hilfe beim Zugriff V:DE-601
-- B:DE-ilm1
Elektronisches Format pdf/application
Verknüpfungstext Inhaltsverzeichnis
Beilagen Inhaltsverzeichnis
935 ## -
-- Blocktest
936 rv - OCLC/CONSER MISCELLANEOUS DATA (OCLC); PIECE USED FOR CATALOGING (pre-AACR2) (RLIN)
OCLC control number(s) of parallel record(s) (OCLC); Piece used for cataloging, PUC (RLIN) UH 6300
-- Transmissionselektronenmikroskopie insgesamt, Allgemeines
-- Physik
-- Klassische Felder, Elektrizitätslehre, Optik, Quantenoptik, Laser, Relativitätstheorie
-- Quantenoptik, Laser- und Masertheorie, Quantenelektronik, Teilchenoptik, Relativitätstheorie
-- Teilchenoptik, Ionenstrahloptik
-- Teilchenoptik, Elektronenmikroskopie
-- Transmissionselektronenmikroskopie
-- Transmissionselektronenmikroskopie insgesamt, Allgemeines
-- (DE-627)1270714988
-- (DE-625)rvk/159498:
-- (DE-576)200714988
936 rv - OCLC/CONSER MISCELLANEOUS DATA (OCLC); PIECE USED FOR CATALOGING (pre-AACR2) (RLIN)
OCLC control number(s) of parallel record(s) (OCLC); Piece used for cataloging, PUC (RLIN) UH 6310
-- Sekundärelektronen-Rasterelektronenmikroskopie einschließlich Elektronenstrahlmikroanalyse insgesamt, Allgemeines
-- Physik
-- Klassische Felder, Elektrizitätslehre, Optik, Quantenoptik, Laser, Relativitätstheorie
-- Quantenoptik, Laser- und Masertheorie, Quantenelektronik, Teilchenoptik, Relativitätstheorie
-- Teilchenoptik, Ionenstrahloptik
-- Teilchenoptik, Elektronenmikroskopie
-- Sekundärelektronen-Rasterelektronenmikroskopie einschließlich Elektronenstrahlmikroanalyse
-- Sekundärelektronen-Rasterelektronenmikroskopie einschließlich Elektronenstrahlmikroanalyse insgesamt, Allgemeines
-- (DE-627)1271513714
-- (DE-625)rvk/159500:
-- (DE-576)201513714
936 bk - OCLC/CONSER MISCELLANEOUS DATA (OCLC); PIECE USED FOR CATALOGING (pre-AACR2) (RLIN)
OCLC control number(s) of parallel record(s) (OCLC); Piece used for cataloging, PUC (RLIN) 33.68
-- Oberflächen
-- Dünne Schichten
-- Grenzflächen
-- Physik
-- (DE-627)10640444X
936 bk - OCLC/CONSER MISCELLANEOUS DATA (OCLC); PIECE USED FOR CATALOGING (pre-AACR2) (RLIN)
OCLC control number(s) of parallel record(s) (OCLC); Piece used for cataloging, PUC (RLIN) 33.72
-- Halbleiterphysik
-- (DE-627)10641917X
936 bk - OCLC/CONSER MISCELLANEOUS DATA (OCLC); PIECE USED FOR CATALOGING (pre-AACR2) (RLIN)
OCLC control number(s) of parallel record(s) (OCLC); Piece used for cataloging, PUC (RLIN) 33.05
-- Experimentalphysik
-- (DE-627)181571102
942 ## - Zusätzliche Felder (Koha)
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