Max Planck Institute for Chemical Physics of Solids - Library Catalog

Transmission electron microscopy (Record no. 2148)

MARC details
000 -Satzkennung
Kontrollfeld mit fester Länge 03256cam a2200685 c 4500
001 - Kontrollnummer
Kontrollfeld 22556405X
003 - Kontrollnummer Identifier
Kontrollfeld DE-627
005 - Datum und Zeit der letzten Transaktion
Kontrollfeld 20250624174227.0
007 - Feld mit fester Länge zur physischen Beschreibung - Allgemeine Information
Kontrollfeld mit fester Länge tu
008 - Feld mit fester Länge zur physischen Beschreibung - Allgemeine Angaben
Kontrollfeld mit fester Länge 970319s1997 gw ||||| 00| ||eng c
015 ## - Nummer der Nationalbibliografie
Nummer der Nationalbibliografie 97,N13,0395
Quelle dnb
015 ## - Nummer der Nationalbibliografie
Nummer der Nationalbibliografie 97,A25,0486
Quelle dnb
016 7# - Kontrollnummer der nationalbibliografischen Agentur
Datensatzkontrollnummer 949564133
Quelle DE-101
020 ## - Internationale Standardbuchnummer
Internationale Standardbuchnummer 3540625682
Bezugsbedingungen (Pp.) : ca. DM 98.00
-- 3-540-62568-2
035 ## - Systemkontrollnummer
System-Kontrollnummer (DE-D210)CP000002273
035 ## - Systemkontrollnummer
System-Kontrollnummer (DE-576)05907468X
035 ## - Systemkontrollnummer
System-Kontrollnummer (DE-627)22556405X
035 ## - Systemkontrollnummer
System-Kontrollnummer (DE-599)GBV22556405X
035 ## - Systemkontrollnummer
System-Kontrollnummer (OCoLC)611526556
040 ## - Katalogisierungsquelle
Original-Katalogisierungsstelle DE-627
Katalogisierungssprache ger
Übertragungsstelle DE-627
Beschreibungsfestlegungen rakwb
041 ## - Sprachcode
Sprachcode des Textes/der Tonspur oder des separaten Titels eng
044 ## - Ländercode der veröffentlichenden/herstellenden Stelle
ISO-Ländercode XA-DE
-- XD-US
-- XA-ES
050 #0 - Signatur der Library of Congress
Notation QH212.T7
082 0# - Notation nach der Dewey Decimal Classification
Notation 502/.8/25
084 ## - Andere Notation
Notation 29
Quelle der Nummer sdnb
084 ## - Andere Notation
Notation UH 6300
Quelle der Nummer rvk
IDN des Normdatensatzes oder Standardnummer (DE-625)rvk/159498:
084 ## - Andere Notation
Notation ZM 3700
Quelle der Nummer rvk
IDN des Normdatensatzes oder Standardnummer (DE-625)rvk/157028:
084 ## - Andere Notation
Notation 33.05
Quelle der Nummer bkl
084 ## - Andere Notation
Notation 33.18
Quelle der Nummer bkl
084 ## - Andere Notation
Notation 33.38
Quelle der Nummer bkl
090 ## - LOCALLY ASSIGNED LC-TYPE CALL NUMBER (OCLC); LOCAL CALL NUMBER (RLIN)
Notation (OCLC) (R) ; Notation, CALL (RLIN) (NR) a
100 1# - Haupteintragung - Personenname
Personenname Reimer, Ludwig
Datumsangaben in Verbindung mit einem Namen 1928-
IDN des Normdatensatzes oder Standardnummer (DE-588)13230130X
-- (DE-627)521409535
-- (DE-576)299060977
Beziehung aut
Koha-Normdatenidentnummer 4965
245 10 - Titel
Titel Transmission electron microscopy
Zusatz zum Titel physics of image formation and microanalysis
Verfasserangabe etc. Ludwig Reimer
250 ## - Ausgabebezeichnung
Ausgabebezeichnung 4. ed.
264 #1 - Produktion, Veröffentlichung, Distribution, Herstellung und Urheberrechtsvermerk
Herstellungs-, Veröffentlichungs- Vertriebs-, Erzeugungsort Berlin
-- Heidelberg [u.a.]
Produzent, Herausgeber, Distributor, Hersteller Springer
Datum der Herstellung, der Veröffentlichung, des Vertriebs oder des Urheberschutzvermerks 1997
300 ## - Physische Beschreibung
Umfang XVI, 584 S
Weitere äußerliche Details Ill., graph. Darst
336 ## - Inhaltstyp
Inhaltstypterm Text
Inhaltstypcode txt
Quelle rdacontent
337 ## - Medientyp
Bezeichnung des Medientyps ohne Hilfsmittel zu benutzen
Medientypcode n
Quelle rdamedia
338 ## - Datenträgertyp
Datenträgertypbezeichnung Band
Datenträgertypcode nc
Quelle rdacarrier
490 1# - Gesamttitelangabe
Gesamttitelangabe Springer series in optical sciences
Bandnummer/Folgebezeichnung 36
500 ## - Allgemeine Fußnote
Allgemeine Fußnote Literaturverz. S. [495] - 569
583 1# - Fußnote zum Bearbeitungsvermerk
Aktion Archivierung/Langzeitarchivierung gewährleistet
Autorisierende Stelle PEBW
Quelle der Ansetzung oder des Terms pdager
Das Unterfeld gibt die Institution an, auf die sich das Feld bezieht DE-31
583 1# - Fußnote zum Bearbeitungsvermerk
Aktion Archivierung prüfen
Zeit/Datum der Bearbeitung 20240324
Autorisierende Stelle DE-4165
OPAC-Notiz 3
Quelle der Ansetzung oder des Terms pdager
650 #0 - Nebeneintragung unter einem Schlagwort - Sachschlagwort
Sachschlagwort oder geografischer Name als Eintragungselement Transmission electron microscopy
689 00 -
-- s
-- (DE-588)4215608-7
-- (DE-627)105055905
-- (DE-576)210226277
-- Durchstrahlungselektronenmikroskopie
-- gnd
689 0# -
-- DE-101
689 10 -
-- s
-- (DE-588)4215608-7
-- (DE-627)105055905
-- (DE-576)210226277
-- Durchstrahlungselektronenmikroskopie
-- gnd
689 1# -
-- (DE-627)
951 ## - EQUIVALENCE OR CROSS-REFERENCE--GEOGRAPHIC NAME/AREA NAME [OBSOLETE] [CAN/MARC only]
Geografischer Name BO
830 #0 - Nebeneintragung unter dem Gesamttitel - Einheitstitel
Einheitstitel Springer series in optical sciences
Bandnummer/Folgebezeichnung 36
Koha-Normdatenidentnummer 36.1997
Datensatzkontrollnummer (DE-627)130167312
-- (DE-576)015710335
-- (DE-600)519636-X
Internationale Standardseriennummer 0342-4111
Kontrollunterfeld am
856 42 - Elektronische Adresse und Zugriff
Uniform Resource Identifier <a href="http://www.gbv.de/dms/goettingen/22556405X.pdf">http://www.gbv.de/dms/goettingen/22556405X.pdf</a>
Kontaktstelle für Hilfe beim Zugriff V:DE-601
-- B:DE-7
Elektronisches Format pdf/application
Verknüpfungstext Inhaltsverzeichnis
Beilagen Inhaltsverzeichnis
935 ## -
-- sf
935 ## -
-- Blocktest
936 rv - OCLC/CONSER MISCELLANEOUS DATA (OCLC); PIECE USED FOR CATALOGING (pre-AACR2) (RLIN)
OCLC control number(s) of parallel record(s) (OCLC); Piece used for cataloging, PUC (RLIN) UH 6300
-- Transmissionselektronenmikroskopie insgesamt, Allgemeines
-- Physik
-- Klassische Felder, Elektrizitätslehre, Optik, Quantenoptik, Laser, Relativitätstheorie
-- Quantenoptik, Laser- und Masertheorie, Quantenelektronik, Teilchenoptik, Relativitätstheorie
-- Teilchenoptik, Ionenstrahloptik
-- Teilchenoptik, Elektronenmikroskopie
-- Transmissionselektronenmikroskopie
-- Transmissionselektronenmikroskopie insgesamt, Allgemeines
-- (DE-627)1270714988
-- (DE-625)rvk/159498:
-- (DE-576)200714988
936 rv - OCLC/CONSER MISCELLANEOUS DATA (OCLC); PIECE USED FOR CATALOGING (pre-AACR2) (RLIN)
OCLC control number(s) of parallel record(s) (OCLC); Piece used for cataloging, PUC (RLIN) ZM 3700
-- zerstörungsfreie
-- Technik
-- Werkstoffwissenschaften und Fertigungstechnik
-- Werkstoffwissenschaft
-- Werkstoffprüfung allgemein
-- zerstörungsfreie
-- (DE-627)1271516969
-- (DE-625)rvk/157028:
-- (DE-576)201516969
936 bk - OCLC/CONSER MISCELLANEOUS DATA (OCLC); PIECE USED FOR CATALOGING (pre-AACR2) (RLIN)
OCLC control number(s) of parallel record(s) (OCLC); Piece used for cataloging, PUC (RLIN) 33.05
-- Experimentalphysik
-- (DE-627)181571102
936 bk - OCLC/CONSER MISCELLANEOUS DATA (OCLC); PIECE USED FOR CATALOGING (pre-AACR2) (RLIN)
OCLC control number(s) of parallel record(s) (OCLC); Piece used for cataloging, PUC (RLIN) 33.18
-- Optik
-- (DE-627)106419102
936 bk - OCLC/CONSER MISCELLANEOUS DATA (OCLC); PIECE USED FOR CATALOGING (pre-AACR2) (RLIN)
OCLC control number(s) of parallel record(s) (OCLC); Piece used for cataloging, PUC (RLIN) 33.38
-- Quantenoptik
-- nichtlineare Optik
-- (DE-627)106407449
942 ## - Zusätzliche Felder (Koha)
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