Max Planck Institute for Chemical Physics of Solids - Library Catalog

Physikalische Grundlagen der Elektronenmikroskopie (Record no. 2044)

MARC details
000 -Satzkennung
Kontrollfeld mit fester Länge 03354cam a2200661 c 4500
001 - Kontrollnummer
Kontrollfeld 279273665
003 - Kontrollnummer Identifier
Kontrollfeld DE-627
005 - Datum und Zeit der letzten Transaktion
Kontrollfeld 20250624174235.0
007 - Feld mit fester Länge zur physischen Beschreibung - Allgemeine Information
Kontrollfeld mit fester Länge tu
008 - Feld mit fester Länge zur physischen Beschreibung - Allgemeine Angaben
Kontrollfeld mit fester Länge 961105s1997 gw ||||| 00| ||ger c
016 7# - Kontrollnummer der nationalbibliografischen Agentur
Datensatzkontrollnummer 949838772
Quelle DE-101
020 ## - Internationale Standardbuchnummer
Internationale Standardbuchnummer 351903221X
-- 3-519-03221-X
035 ## - Systemkontrollnummer
System-Kontrollnummer (DE-D210)CP000002165
035 ## - Systemkontrollnummer
System-Kontrollnummer (DE-576)055294812
035 ## - Systemkontrollnummer
System-Kontrollnummer (DE-627)279273665
035 ## - Systemkontrollnummer
System-Kontrollnummer (DE-599)GBV279273665
035 ## - Systemkontrollnummer
System-Kontrollnummer (OCoLC)247085738
035 ## - Systemkontrollnummer
System-Kontrollnummer (DE-604)8112539688
040 ## - Katalogisierungsquelle
Original-Katalogisierungsstelle DE-627
Katalogisierungssprache ger
Übertragungsstelle DE-627
Beschreibungsfestlegungen rakwb
041 ## - Sprachcode
Sprachcode des Textes/der Tonspur oder des separaten Titels ger
044 ## - Ländercode der veröffentlichenden/herstellenden Stelle
ISO-Ländercode XA-DE-BW
084 ## - Andere Notation
Notation NAT 413
Quelle der Nummer sfb
084 ## - Andere Notation
Notation 29
Quelle der Nummer sdnb
084 ## - Andere Notation
Notation 11
Quelle der Nummer ssgn
084 ## - Andere Notation
Notation ZM 8150
Quelle der Nummer rvk
IDN des Normdatensatzes oder Standardnummer (DE-625)rvk/159844:
084 ## - Andere Notation
Notation UH 6300
Quelle der Nummer rvk
IDN des Normdatensatzes oder Standardnummer (DE-625)rvk/159498:
084 ## - Andere Notation
Notation ZM 3700
Quelle der Nummer rvk
IDN des Normdatensatzes oder Standardnummer (DE-625)rvk/157028:
084 ## - Andere Notation
Notation 33.18
Quelle der Nummer bkl
084 ## - Andere Notation
Notation 33.05
Quelle der Nummer bkl
100 1# - Haupteintragung - Personenname
Personenname Alexander, Helmut
IDN des Normdatensatzes oder Standardnummer (DE-588)1158038364
-- (DE-627)1020424451
-- (DE-576)503522899
Beziehung aut
Koha-Normdatenidentnummer 7505
245 10 - Titel
Titel Physikalische Grundlagen der Elektronenmikroskopie
Verfasserangabe etc. von Helmut Alexander
264 #1 - Produktion, Veröffentlichung, Distribution, Herstellung und Urheberrechtsvermerk
Herstellungs-, Veröffentlichungs- Vertriebs-, Erzeugungsort Stuttgart
Produzent, Herausgeber, Distributor, Hersteller Teubner
Datum der Herstellung, der Veröffentlichung, des Vertriebs oder des Urheberschutzvermerks 1997
300 ## - Physische Beschreibung
Umfang 320 S.
Weitere äußerliche Details Ill., graph. Darst.
336 ## - Inhaltstyp
Inhaltstypterm Text
Inhaltstypcode txt
Quelle rdacontent
337 ## - Medientyp
Bezeichnung des Medientyps ohne Hilfsmittel zu benutzen
Medientypcode n
Quelle rdamedia
338 ## - Datenträgertyp
Datenträgertypbezeichnung Band
Datenträgertypcode nc
Quelle rdacarrier
490 0# - Gesamttitelangabe
Gesamttitelangabe Teubner Studienbücher
-- Angewandte Physik
583 1# - Fußnote zum Bearbeitungsvermerk
Aktion Archivierung/Langzeitarchivierung gewährleistet
Autorisierende Stelle PEBW
Quelle der Ansetzung oder des Terms pdager
Das Unterfeld gibt die Institution an, auf die sich das Feld bezieht DE-24
650 #0 - Nebeneintragung unter einem Schlagwort - Sachschlagwort
Sachschlagwort oder geografischer Name als Eintragungselement Electron microscopy
655 7# - Indexierungsterm - Genre/Form
Genre/Form oder fokussierter Term Lehrbuch
Koha-Normdatenidentnummer 209561262
655 #7 - Indexierungsterm - Genre/Form
Genre/Form oder fokussierter Term Lehrbuch
IDN des Normdatensatzes oder Standardnummer (DE-588)4123623-3
-- (DE-627)104270187
-- (DE-576)209561262
Quelle der Ansetzung oder des Terms gnd-content
689 00 -
-- s
-- (DE-588)4014327-2
-- (DE-627)106340549
-- (DE-576)208907351
-- Elektronenmikroskopie
-- gnd
689 0# -
-- DE-101
689 10 -
-- s
-- (DE-588)4014327-2
-- (DE-627)106340549
-- (DE-576)208907351
-- Elektronenmikroskopie
-- gnd
689 1# -
-- (DE-627)
951 ## - EQUIVALENCE OR CROSS-REFERENCE--GEOGRAPHIC NAME/AREA NAME [OBSOLETE] [CAN/MARC only]
Geografischer Name BO
856 42 - Elektronische Adresse und Zugriff
Uniform Resource Identifier <a href="https://swbplus.bsz-bw.de/bsz055294812cov.jpg">https://swbplus.bsz-bw.de/bsz055294812cov.jpg</a>
Kontaktstelle für Hilfe beim Zugriff V:DE-576
-- X:springer
Elektronisches Format image/jpeg
Zugriffszeiten 20140211113802
Beilagen Cover
856 42 - Elektronische Adresse und Zugriff
Uniform Resource Identifier <a href="http://www.gbv.de/dms/ilmenau/toc/225565293.PDF">http://www.gbv.de/dms/ilmenau/toc/225565293.PDF</a>
Kontaktstelle für Hilfe beim Zugriff V:DE-601
-- B:DE-ilm1
Elektronisches Format pdf/application
Verknüpfungstext Inhaltsverzeichnis
Beilagen Inhaltsverzeichnis
889 ## -
-- (DE-627)225565293
935 ## -
-- mdedup
935 ## -
-- Blocktest
936 rv - OCLC/CONSER MISCELLANEOUS DATA (OCLC); PIECE USED FOR CATALOGING (pre-AACR2) (RLIN)
OCLC control number(s) of parallel record(s) (OCLC); Piece used for cataloging, PUC (RLIN) ZM 8150
-- Urformen aus plastischem Zustand allgemein
-- Technik
-- Werkstoffwissenschaften und Fertigungstechnik
-- Fertigungsverfahren
-- Urformen
-- Urformen aus plastischem Zustand
-- Urformen aus plastischem Zustand allgemein
-- (DE-627)1271575086
-- (DE-625)rvk/159844:
-- (DE-576)201575086
936 rv - OCLC/CONSER MISCELLANEOUS DATA (OCLC); PIECE USED FOR CATALOGING (pre-AACR2) (RLIN)
OCLC control number(s) of parallel record(s) (OCLC); Piece used for cataloging, PUC (RLIN) UH 6300
-- Transmissionselektronenmikroskopie insgesamt, Allgemeines
-- Physik
-- Klassische Felder, Elektrizitätslehre, Optik, Quantenoptik, Laser, Relativitätstheorie
-- Quantenoptik, Laser- und Masertheorie, Quantenelektronik, Teilchenoptik, Relativitätstheorie
-- Teilchenoptik, Ionenstrahloptik
-- Teilchenoptik, Elektronenmikroskopie
-- Transmissionselektronenmikroskopie
-- Transmissionselektronenmikroskopie insgesamt, Allgemeines
-- (DE-627)1270714988
-- (DE-625)rvk/159498:
-- (DE-576)200714988
936 rv - OCLC/CONSER MISCELLANEOUS DATA (OCLC); PIECE USED FOR CATALOGING (pre-AACR2) (RLIN)
OCLC control number(s) of parallel record(s) (OCLC); Piece used for cataloging, PUC (RLIN) ZM 3700
-- zerstörungsfreie
-- Technik
-- Werkstoffwissenschaften und Fertigungstechnik
-- Werkstoffwissenschaft
-- Werkstoffprüfung allgemein
-- zerstörungsfreie
-- (DE-627)1271516969
-- (DE-625)rvk/157028:
-- (DE-576)201516969
936 bk - OCLC/CONSER MISCELLANEOUS DATA (OCLC); PIECE USED FOR CATALOGING (pre-AACR2) (RLIN)
OCLC control number(s) of parallel record(s) (OCLC); Piece used for cataloging, PUC (RLIN) 33.18
-- Optik
-- (DE-627)106419102
936 bk - OCLC/CONSER MISCELLANEOUS DATA (OCLC); PIECE USED FOR CATALOGING (pre-AACR2) (RLIN)
OCLC control number(s) of parallel record(s) (OCLC); Piece used for cataloging, PUC (RLIN) 33.05
-- Experimentalphysik
-- (DE-627)181571102
942 ## - Zusätzliche Felder (Koha)
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