Max Planck Institute for Chemical Physics of Solids - Library Catalog

Praxis der Rasterelektronenmikroskopie und Mikrobereichsanalyse (Record no. 1605)

MARC details
000 -Satzkennung
Kontrollfeld mit fester Länge 04828cam a2200829 c 4500
001 - Kontrollnummer
Kontrollfeld 147829402
003 - Kontrollnummer Identifier
Kontrollfeld DE-627
005 - Datum und Zeit der letzten Transaktion
Kontrollfeld 20250624174221.0
007 - Feld mit fester Länge zur physischen Beschreibung - Allgemeine Information
Kontrollfeld mit fester Länge tu
008 - Feld mit fester Länge zur physischen Beschreibung - Allgemeine Angaben
Kontrollfeld mit fester Länge 940323s1994 gw ||||| 00| ||ger c
015 ## - Nummer der Nationalbibliografie
Nummer der Nationalbibliografie 94,N09,0521
Quelle dnb
015 ## - Nummer der Nationalbibliografie
Nummer der Nationalbibliografie 95,A46,0930
Quelle dnb
016 7# - Kontrollnummer der nationalbibliografischen Agentur
Datensatzkontrollnummer 940411504
Quelle DE-101
020 ## - Internationale Standardbuchnummer
Internationale Standardbuchnummer 9783816910381
-- 978-3-8169-1038-1
020 ## - Internationale Standardbuchnummer
Internationale Standardbuchnummer 3816910386
-- 3-8169-1038-6
035 ## - Systemkontrollnummer
System-Kontrollnummer (DE-D210)CP000001701
035 ## - Systemkontrollnummer
System-Kontrollnummer (DE-576)041171608
035 ## - Systemkontrollnummer
System-Kontrollnummer (DE-627)147829402
035 ## - Systemkontrollnummer
System-Kontrollnummer (DE-599)DNB940411504
035 ## - Systemkontrollnummer
System-Kontrollnummer (OCoLC)722296989
040 ## - Katalogisierungsquelle
Original-Katalogisierungsstelle DE-627
Katalogisierungssprache ger
Übertragungsstelle DE-627
Beschreibungsfestlegungen rakwb
041 ## - Sprachcode
Sprachcode des Textes/der Tonspur oder des separaten Titels ger
044 ## - Ländercode der veröffentlichenden/herstellenden Stelle
ISO-Ländercode XA-DE-BW
084 ## - Andere Notation
Notation 29
-- 35
Quelle der Nummer sdnb
084 ## - Andere Notation
Notation 29
-- 30
-- 35
Quelle der Nummer sdnb
084 ## - Andere Notation
Notation 13
Quelle der Nummer ssgn
084 ## - Andere Notation
Notation UH 6310
Quelle der Nummer rvk
IDN des Normdatensatzes oder Standardnummer (DE-625)rvk/159500:
084 ## - Andere Notation
Notation WC 3100
Quelle der Nummer rvk
IDN des Normdatensatzes oder Standardnummer (DE-625)rvk/148081:
084 ## - Andere Notation
Notation ZM 3700
Quelle der Nummer rvk
IDN des Normdatensatzes oder Standardnummer (DE-625)rvk/157028:
084 ## - Andere Notation
Notation UH 6300
Quelle der Nummer rvk
IDN des Normdatensatzes oder Standardnummer (DE-625)rvk/159498:
084 ## - Andere Notation
Notation 33.61
Quelle der Nummer bkl
084 ## - Andere Notation
Notation 33.03
Quelle der Nummer bkl
084 ## - Andere Notation
Notation 33.18
Quelle der Nummer bkl
084 ## - Andere Notation
Notation 33.05
Quelle der Nummer bkl
245 00 - Titel
Titel Praxis der Rasterelektronenmikroskopie und Mikrobereichsanalyse
Verfasserangabe etc. Peter Fritz Schmidt ...
264 #1 - Produktion, Veröffentlichung, Distribution, Herstellung und Urheberrechtsvermerk
Herstellungs-, Veröffentlichungs- Vertriebs-, Erzeugungsort Renningen-Malmsheim
Produzent, Herausgeber, Distributor, Hersteller expert-Verl.
Datum der Herstellung, der Veröffentlichung, des Vertriebs oder des Urheberschutzvermerks 1994
300 ## - Physische Beschreibung
Umfang 810 S.
Weitere äußerliche Details zahlr. Ill., graph. Darst.
336 ## - Inhaltstyp
Inhaltstypterm Text
Inhaltstypcode txt
Quelle rdacontent
337 ## - Medientyp
Bezeichnung des Medientyps ohne Hilfsmittel zu benutzen
Medientypcode n
Quelle rdamedia
338 ## - Datenträgertyp
Datenträgertypbezeichnung Band
Datenträgertypcode nc
Quelle rdacarrier
490 1# - Gesamttitelangabe
Gesamttitelangabe Kontakt & Studium
Bandnummer/Folgebezeichnung 444
Gesamttitelangabe Meßtechnik
500 ## - Allgemeine Fußnote
Allgemeine Fußnote Literaturangaben
583 1# - Fußnote zum Bearbeitungsvermerk
Aktion Archivierung/Langzeitarchivierung gewährleistet
Autorisierende Stelle PEBW
Quelle der Ansetzung oder des Terms pdager
Das Unterfeld gibt die Institution an, auf die sich das Feld bezieht DE-24
650 #0 - Nebeneintragung unter einem Schlagwort - Sachschlagwort
Sachschlagwort oder geografischer Name als Eintragungselement Scanning electron microscopy
655 7# - Indexierungsterm - Genre/Form
Genre/Form oder fokussierter Term Aufsatzsammlung
Koha-Normdatenidentnummer 209726091
655 #7 - Indexierungsterm - Genre/Form
Genre/Form oder fokussierter Term Aufsatzsammlung
IDN des Normdatensatzes oder Standardnummer (DE-588)4143413-4
-- (DE-627)105605727
-- (DE-576)209726091
Quelle der Ansetzung oder des Terms gnd-content
689 00 -
-- s
-- (DE-588)4048455-5
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-- (DE-576)209077956
-- Rasterelektronenmikroskopie
-- gnd
689 0# -
-- DE-101
689 10 -
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-- Mikrosonde
-- gnd
689 11 -
-- s
-- (DE-588)4048455-5
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-- Rasterelektronenmikroskopie
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689 1# -
-- DE-101
689 20 -
-- s
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-- Rasterelektronenmikroskopie
-- gnd
689 2# -
-- (DE-627)
689 30 -
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-- Mikrosonde
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-- s
-- (DE-588)4048455-5
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-- (DE-576)209077956
-- Rasterelektronenmikroskopie
-- gnd
689 3# -
-- (DE-627)
951 ## - EQUIVALENCE OR CROSS-REFERENCE--GEOGRAPHIC NAME/AREA NAME [OBSOLETE] [CAN/MARC only]
Geografischer Name BO
700 1# - Nebeneintragung - Personenname
Personenname Schmidt, Peter Fritz
IDN des Normdatensatzes oder Standardnummer (DE-588)172743540
-- (DE-627)697675122
-- (DE-576)133600742
Beziehung oth
Koha-Normdatenidentnummer 6128
830 #0 - Nebeneintragung unter dem Gesamttitel - Einheitstitel
Einheitstitel Kontakt & Studium
Bandnummer/Folgebezeichnung 444 : Meßtechnik
Koha-Normdatenidentnummer 444
Datensatzkontrollnummer (DE-627)129421669
-- (DE-576)028408101
-- (DE-600)190361-5
Internationale Standardseriennummer 0171-1938
Kontrollunterfeld am
856 42 - Elektronische Adresse und Zugriff
Uniform Resource Identifier <a href="https://www.gbv.de/dms/ohb-opac/147829402.pdf">https://www.gbv.de/dms/ohb-opac/147829402.pdf</a>
Kontaktstelle für Hilfe beim Zugriff V:DE-601
-- B:DE-Goe116
Elektronisches Format pdf/application
Beilagen Inhaltsverzeichnis
889 ## -
-- (DE-627)272334677
935 ## -
-- Blocktest
936 rv - OCLC/CONSER MISCELLANEOUS DATA (OCLC); PIECE USED FOR CATALOGING (pre-AACR2) (RLIN)
OCLC control number(s) of parallel record(s) (OCLC); Piece used for cataloging, PUC (RLIN) UH 6310
-- Sekundärelektronen-Rasterelektronenmikroskopie einschließlich Elektronenstrahlmikroanalyse insgesamt, Allgemeines
-- Physik
-- Klassische Felder, Elektrizitätslehre, Optik, Quantenoptik, Laser, Relativitätstheorie
-- Quantenoptik, Laser- und Masertheorie, Quantenelektronik, Teilchenoptik, Relativitätstheorie
-- Teilchenoptik, Ionenstrahloptik
-- Teilchenoptik, Elektronenmikroskopie
-- Sekundärelektronen-Rasterelektronenmikroskopie einschließlich Elektronenstrahlmikroanalyse
-- Sekundärelektronen-Rasterelektronenmikroskopie einschließlich Elektronenstrahlmikroanalyse insgesamt, Allgemeines
-- (DE-627)1271513714
-- (DE-625)rvk/159500:
-- (DE-576)201513714
936 rv - OCLC/CONSER MISCELLANEOUS DATA (OCLC); PIECE USED FOR CATALOGING (pre-AACR2) (RLIN)
OCLC control number(s) of parallel record(s) (OCLC); Piece used for cataloging, PUC (RLIN) WC 3100
-- Elektronenmikroskopie
-- Biologie
-- Methoden
-- Physikalisch-chemische Methoden
-- Mikroskopie und mikroskopische Techniken allgemein
-- Elektronenmikroskopie
-- (DE-627)1271535939
-- (DE-625)rvk/148081:
-- (DE-576)201535939
936 rv - OCLC/CONSER MISCELLANEOUS DATA (OCLC); PIECE USED FOR CATALOGING (pre-AACR2) (RLIN)
OCLC control number(s) of parallel record(s) (OCLC); Piece used for cataloging, PUC (RLIN) ZM 3700
-- zerstörungsfreie
-- Technik
-- Werkstoffwissenschaften und Fertigungstechnik
-- Werkstoffwissenschaft
-- Werkstoffprüfung allgemein
-- zerstörungsfreie
-- (DE-627)1271516969
-- (DE-625)rvk/157028:
-- (DE-576)201516969
936 rv - OCLC/CONSER MISCELLANEOUS DATA (OCLC); PIECE USED FOR CATALOGING (pre-AACR2) (RLIN)
OCLC control number(s) of parallel record(s) (OCLC); Piece used for cataloging, PUC (RLIN) UH 6300
-- Transmissionselektronenmikroskopie insgesamt, Allgemeines
-- Physik
-- Klassische Felder, Elektrizitätslehre, Optik, Quantenoptik, Laser, Relativitätstheorie
-- Quantenoptik, Laser- und Masertheorie, Quantenelektronik, Teilchenoptik, Relativitätstheorie
-- Teilchenoptik, Ionenstrahloptik
-- Teilchenoptik, Elektronenmikroskopie
-- Transmissionselektronenmikroskopie
-- Transmissionselektronenmikroskopie insgesamt, Allgemeines
-- (DE-627)1270714988
-- (DE-625)rvk/159498:
-- (DE-576)200714988
936 bk - OCLC/CONSER MISCELLANEOUS DATA (OCLC); PIECE USED FOR CATALOGING (pre-AACR2) (RLIN)
OCLC control number(s) of parallel record(s) (OCLC); Piece used for cataloging, PUC (RLIN) 33.61
-- Festkörperphysik
-- (DE-627)106419145
936 bk - OCLC/CONSER MISCELLANEOUS DATA (OCLC); PIECE USED FOR CATALOGING (pre-AACR2) (RLIN)
OCLC control number(s) of parallel record(s) (OCLC); Piece used for cataloging, PUC (RLIN) 33.03
-- Physikalische Einheiten
-- Physikalische Konstanten
-- (DE-627)106419080
936 bk - OCLC/CONSER MISCELLANEOUS DATA (OCLC); PIECE USED FOR CATALOGING (pre-AACR2) (RLIN)
OCLC control number(s) of parallel record(s) (OCLC); Piece used for cataloging, PUC (RLIN) 33.18
-- Optik
-- (DE-627)106419102
936 bk - OCLC/CONSER MISCELLANEOUS DATA (OCLC); PIECE USED FOR CATALOGING (pre-AACR2) (RLIN)
OCLC control number(s) of parallel record(s) (OCLC); Piece used for cataloging, PUC (RLIN) 33.05
-- Experimentalphysik
-- (DE-627)181571102
942 ## - Zusätzliche Felder (Koha)
Koha-Medientyp Buch
Holdings
Ausgeschieden Status Verloren-Status Beschädigung Nicht ausleihbar Heimatbibliothek Aktuelle Bibliothek Zugangsdatum Inventarnummer Anzahl Ausleihen Signatur Barcode Letzte Aktivität Preis gültig ab Koha-Medientyp
        MPI CPfS MPI CPfS 2003-05-05 99 A 137 02 4 UH 6310 PRAX +2 10002550 2025-06-23 2025-06-23 Buch
        MPI CPfS MPI CPfS 2003-05-05 99 A 137 01 1 UH 6310 PRAX 10002380 2025-06-23 2025-06-23 Buch

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